公开(公告)号：CN1933719B

公开(公告)日：2010-06-16

申请号：CN200610153741.9

申请日：2006-09-15

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 相马宏司 ,  森弘之 ,  岸本真由子 ,  谷上昌伸 ,  古贺纯平

IPC: H05K13/08 ,  G06F17/00 ,  G05B23/02

Abstract: 提供一种在产生不良时有助于确定原因的检查结果输出方法，其中，将配件安装到基板上的电子配件安装装置的印刷工序中的检查结果输出方法是：例如，准备作为印刷工序中的检查对象项目的焊盘的印刷面积这样的检查结果信息、及其识别编号(S11)，并准备与作为检查对象项目的焊盘相关的焊盘X、Y方向的尺寸这样的相关信息(S12)，将相关信息与检查结果信息一并输出(S13)。

公开(公告)号：CN1933719A

公开(公告)日：2007-03-21

申请号：CN200610153741.9

申请日：2006-09-15

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 相马宏司 ,  森弘之 ,  岸本真由子 ,  谷上昌伸 ,  古贺纯平

IPC: H05K13/08 ,  G06F17/00 ,  G05B23/02

Abstract: 提供一种在产生不良时有助于确定原因的检查结果输出方法，其中，将配件安装到基板上的电子配件安装装置的印刷工序中的检查结果输出方法是：例如，准备作为印刷工序中的检查对象项目的焊盘的印刷面积这样的检查结果信息、及其识别编号(S11)，并准备与作为检查对象项目的焊盘相关的焊盘X、Y方向的尺寸这样的相关信息(S12)，将相关信息与检查结果信息一并输出(S13)。

公开(公告)号：CN1920868A

公开(公告)日：2007-02-28

申请号：CN200610125628.X

申请日：2006-08-24

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 森弘之 ,  松下明 ,  相马宏司 ,  谷上昌伸

IPC: G06Q10/00 ,  H05K13/08

CPC classification number: Y02P90/02 ,  Y02P90/14 ,  Y02P90/30

Abstract: 提供一种信息处理装置，不会增加检查项目，即可进行精度更高的不良原因的推定，且可将推定的不良原因通知给用户。其包括：工序状态收集部，从检查装置取得印刷基板制造时的检查结果；不良位置确定部，根据取得的检查结果，按照各个不良的种类确定不良的产生场所；偏重方判断部，判断同种不良产生的产生场所有无偏重；不良原因确定部，参照预先存储于存储部中的、至少表示了不良的产生场所有无偏重的偏重信息、和表示分别与各个上述偏重信息相关联的不良原因的不良原因信息，当存储部中存储有与判断结果对应的偏重信息时，从存储部取得与该偏重信息相关联的不良原因信息；和显示控制部，使取得的不良原因信息显示在显示部上。