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公开(公告)号：CN1426026A
公开(公告)日：2003-06-25
申请号：CN02155882.5
申请日：2002-12-13
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G07D5/02
Abstract: 本发明提供一种介质表面读取装置，是一种通过对装载于运送装置的运送面上且被运送的介质的上面进行照射，由读取装置来读取所述被照射的介质的上面的边缘部分，从而实现对介质表面的读取的装置，其特征是，具有从与所述读取装置的读取位置相对应的斜上方照射被所述运送装置运送的介质的上面及介质四周部的各边缘部分的倾斜照射装置、和容许从所述的倾斜装置上倾斜照射介质的上面及介质的周边部、并在该介质的运送横向方向上引导该介质的横向导向装置。在读取介质表面时，通过设置可清楚地照射其介质表面边缘部分的倾斜照射装置，拉长适于取得图像的斜影，从而可高精度、清楚地进行读取。
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公开(公告)号：CN1189843C
公开(公告)日：2005-02-16
申请号：CN02155882.5
申请日：2002-12-13
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G07D5/02
Abstract: 本发明提供一种介质表面读取装置，是一种通过对装载于运送装置的运送面上且被运送的介质的上面进行照射，由读取装置来读取所述被照射的介质的上面的边缘部分，从而实现对介质表面的读取的装置，其特征是，具有从与所述读取装置的读取位置相对应的斜上方照射被所述运送装置运送的介质的上面及介质四周部的各边缘部分的倾斜照射装置、和容许从所述的倾斜装置上倾斜照射介质的上面及介质的周边部、并在该介质的运送横向方向上引导该介质的横向导向装置。在读取介质表面时，通过设置可清楚地照射其介质表面边缘部分的倾斜照射装置，拉长适于取得图像的斜影，从而可高精度、清楚地进行读取。
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公开(公告)号：CN2593274Y
公开(公告)日：2003-12-17
申请号：CN02292704.2
申请日：2002-12-13
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 本实用新型提供一种介质表面读取装置，是一种通过对装载于运送装置的运送面上且被运送的介质的上面进行照射，由读取装置来读取所述被照射的介质的上面的边缘部分，从而实现对介质表面的读取的装置，其特征是：具有从与所述读取装置的读取位置相对应的斜上方照射被所述运送装置运送的介质的上面及介质四周部的各边缘部分的倾斜照射装置、和容许从所述的倾斜装置上倾斜照射介质的上面及介质的周边部、并在该介质的运送横向方向上引导该介质的横向导向装置。在读取介质表面时，通过设置可清楚地照射其介质表面边缘部分的倾斜照射装置，拉长适于取得图像的斜影，从而可高精度、清楚地进行读取。
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