-
公开(公告)号：CN1972591A
公开(公告)日：2007-05-30
申请号：CN200610146435.2
申请日：2006-11-14
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: H05K13/08
CPC classification number: G01R31/2806
Abstract: 提供一种不良分析部位指定装置，即使不是熟练者，也可指定可有效地改善质量的优先度高的不良分析部位。在不良分析部位指定装置中，首先由用户接收进行不良分析的调查对象批量的指定(S11)，调查对象批量被指定后，从外部的检查信息存储装置接收该调查对象批量的检查结果数据，制作指定不良的内容的各个不良模式的帕莱托图(S12)，选择频数最多的不良模式(S13)。在该不良模式内对相同异常发生的次数进行计数(S14)，判断在相同工序中相同异常现象是否发生3次以上(S15)，若发生(S15中为是)则选择并提取相同现象发生的任意的不良部位(S16)。在S15中若没有相同异常现象发生3次以上(S15中为否)，则确认该处理至帕莱托图的上位70％为止的不良模式(S17、S18)。
-
公开(公告)号：CN1863440A
公开(公告)日：2006-11-15
申请号：CN200510054579.0
申请日：2005-03-14
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 针对被判断为不良的基板，对进行该不良判断的检查机或设置于其它工序的检查机检查中用的基板的图像进行比较，同时进行确认。在零部件安装基板的制造生产线中，按每一个工序配备检查机(1)，同时通过网络线路(7)将各检查机(1)与服务器(2)连接。在各检查机(1)中，每当执行检查时，将检查结果信息发送给服务器(2)，同时将检查中使用的图像数据保存于存储器中。服务器(2)在从任意一个检查机(1)接收包含不良判断信息的检查结果信息时，从该信息中特定进行不良判断的检查区域，向各检查机(1)，要求与该检查区域有关的信息的发送。各检查机(1)对应于该发送要求，从上述存储器中抽取该检查区域的图像并发送给服务器(2)。
-
公开(公告)号：CN1972591B
公开(公告)日：2010-08-18
申请号：CN200610146435.2
申请日：2006-11-14
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: H05K13/08
CPC classification number: G01R31/2806
Abstract: 提供一种不良分析部位指定装置，即使不是熟练者，也可指定可有效地改善质量的优先度高的不良分析部位。在不良分析部位指定装置中，首先由用户接收进行不良分析的调查对象批量的指定(S11)，调查对象批量被指定后，从外部的检查信息存储装置接收该调查对象批量的检查结果数据，制作指定不良的内容的各个不良模式的帕莱托图(S12)，选择频数最多的不良模式(S13)。在该不良模式内对相同异常发生的次数进行计数(S14)，判断在相同工序中相同异常现象是否发生3次以上(S15)，若发生(S15中为是)则选择并提取相同现象发生的任意的不良部位(S16)。在S15中若没有相同异常现象发生3次以上(S15中为否)，则确认该处理至帕莱托图的上位70％为止的不良模式(S17、S18)。
-
公开(公告)号：CN100508695C
公开(公告)日：2009-07-01
申请号：CN200510054579.0
申请日：2005-03-14
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 针对被判断为不良的基板，对进行该不良判断的检查机或设置于其它工序的检查机检查中用的基板的图像进行比较，同时进行确认。在零部件安装基板的制造生产线中，按每一个工序配备检查机(1)，同时通过网络线路(7)将各检查机(1)与服务器(2)连接。在各检查机(1)中，每当执行检查时，将检查结果信息发送给服务器(2)，同时将检查中使用的图像数据保存于存储器中。服务器(2)在从任意一个检查机(1)接收包含不良判断信息的检查结果信息时，从该信息中特定进行不良判断的检查区域，向各检查机(1)，要求与该检查区域有关的信息的发送。各检查机(1)对应于该发送要求，从上述存储器中抽取该检查区域的图像并发送给服务器(2)。
-
-
-
Search Results
4
records
(took 0.016 seconds)
