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公开(公告)号：CN103267628A
公开(公告)日：2013-08-28
申请号：CN201310024897.7
申请日：2013-01-23
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种测定发光元件的发光特性的发光特性测定装置，其具有：光学积分器，其具有能够对从排列的多个发光元件输出的光进行受光的入射口，从所述入射口对从所述多个发光元件输出的所述光进行受光，将受光的所述光均一化；受光装置，其对由所述光学积分器均一化后的所述光进行受光；以及控制处理装置，其使所述多个发光元件择一地依次发光，并且与所述发光元件相对于所述光学积分器的所述入射口的位置相对应，对从所述受光装置依次获得的受光结果进行校正。
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