公开(公告)号：CN110389109B

公开(公告)日：2022-07-08

申请号：CN201910287426.2

申请日：2019-04-11

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 小林由贵 ,  松尾纯一

IPC: G01N21/39

Abstract: 本发明提供一种气体分析装置，该气体分析装置(1)具备：向包含待测气体(G)的测定区域(R1)照射测定光的发光部(21)；使发光部(21)所照射的测定光反射的反射部(15)；接收经反射部(15)反射后的测定光的光接收部(22)；以及扩大反射部(15)上测定光的光束直径(W)的调整部(24)。

公开(公告)号：CN110389102A

公开(公告)日：2019-10-29

申请号：CN201910266635.9

申请日：2019-04-03

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 小林由贵 ,  松尾纯一 ,  藤村直之

IPC: G01N21/31 ,  G01N21/39

Abstract: 本发明提供一种气体分析装置，该气体分析装置(1)包括：向包含待测气体(G)的测定区域(R1)照射测定光的发光部(21)；接收通过测定区域(R1)后的测定光的第一光接收部(22)；配置在发光部(21)与测定区域(R1)之间且将发光部(21)所照射的测定光的一部分分光为参照光的分光部(24)；包含有与待测气体(G)中的测定对象成分相同且浓度已知的气体并具有接收通过包含有气体的区域后的参照光的第二光接收部(26)的参照部(25)；以及配置在分光部(24)与包含有气体的区域之间的光学器件(28)，光学器件(28)使第二光接收部(26)上参照光的光束直径大于第二光接收部(26)的光接收直径。

公开(公告)号：CN110389102B

公开(公告)日：2022-05-03

申请号：CN201910266635.9

申请日：2019-04-03

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 小林由贵 ,  松尾纯一 ,  藤村直之

IPC: G01N21/31 ,  G01N21/39

Abstract: 本发明提供一种气体分析装置，该气体分析装置(1)包括：向包含待测气体(G)的测定区域(R1)照射测定光的发光部(21)；接收通过测定区域(R1)后的测定光的第一光接收部(22)；配置在发光部(21)与测定区域(R1)之间且将发光部(21)所照射的测定光的一部分分光为参照光的分光部(24)；包含有与待测气体(G)中的测定对象成分相同且浓度已知的气体并具有接收通过包含有气体的区域后的参照光的第二光接收部(26)的参照部(25)；以及配置在分光部(24)与包含有气体的区域之间的光学器件(28)，光学器件(28)使第二光接收部(26)上参照光的光束直径大于第二光接收部(26)的光接收直径。

公开(公告)号：CN110389109A

公开(公告)日：2019-10-29

申请号：CN201910287426.2

申请日：2019-04-11

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 小林由贵 ,  松尾纯一

IPC: G01N21/39

Abstract: 本发明提供一种气体分析装置，该气体分析装置(1)具备：向包含待测气体(G)的测定区域(R1)照射测定光的发光部(21)；使发光部(21)所照射的测定光反射的反射部(15)；接收经反射部(15)反射后的测定光的光接收部(22)；以及扩大反射部(15)上测定光的光束直径(W)的调整部(24)。