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公开(公告)号：CN117150201A
公开(公告)日：2023-12-01
申请号：CN202310622558.2
申请日：2023-05-29
Applicant: 横河电机株式会社
Abstract: 一种检测设备包括处理器，该处理器：基于传感器值阵列数据来检测目标物体的状态变化，在传感器值阵列数据中，从传感器获取的传感器值与传感器的阵列位置相关联；针对在不同时间获取传感器值的两条传感器值阵列数据，生成差分值阵列数据；从差分值阵列数据生成两条部分差分值阵列数据；并且基于关于两条部分差分值阵列数据中的差分值之间的相似度的阈值确定结果以及关于差分值阵列数据的方差值的阈值确定结果，确定在差分值阵列数据中是否存在差分值的平滑变化。
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