公开(公告)号：CN101512384B

公开(公告)日：2012-05-30

申请号：CN200680018855.0

申请日：2006-01-24

Applicant: 梅农及合伙人公司

Inventor： 苏雷什·M.·梅农 ,  戴维·E.·纽曼 ,  特里·J.·亨德森 ,  J.·曼纽尔·佩雷斯

IPC: G01V3/00

CPC classification number: G01N33/54333 ,  G01N24/08 ,  G01N24/084 ,  G01N33/54373 ,  G01R33/281 ,  G01R33/34053 ,  G01R33/3806 ,  G01R33/383 ,  G01R33/5601 ,  Y10S977/702 ,  Y10S977/773 ,  Y10S977/81 ,  Y10S977/92

Abstract: 本发明提供一种基于磁共振测量来检测目标分析物的系统和方法。磁结构产生具有与分析物相当的尺寸的不同磁场区域。当分析物结合在那些区域中时，来自样品的磁共振信号发生改变，从而对分析物进行检测。

公开(公告)号：CN101512384A

公开(公告)日：2009-08-19

申请号：CN200680018855.0

申请日：2006-01-24

Applicant: 梅农及合伙人公司

Inventor： 苏雷什·M.·梅农 ,  戴维·E.·纽曼 ,  特里·J.·亨德森 ,  J.·曼纽尔·佩雷斯

IPC: G01V3/00

CPC classification number: G01N33/54333 ,  G01N24/08 ,  G01N24/084 ,  G01N33/54373 ,  G01R33/281 ,  G01R33/34053 ,  G01R33/3806 ,  G01R33/383 ,  G01R33/5601 ,  Y10S977/702 ,  Y10S977/773 ,  Y10S977/81 ,  Y10S977/92

Abstract: 本发明提供一种基于磁共振测量来检测目标分析物的系统和方法。磁结构产生具有与分析物相当的尺寸的不同磁场区域。当分析物结合在那些区域中时，来自样品的磁共振信号发生改变，从而对分析物进行检测。