公开(公告)号：CN102332306A

公开(公告)日：2012-01-25

申请号：CN201110197542.9

申请日：2011-07-15

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 谈恩民 ,  马江波

IPC: G11C29/08

Abstract: 本发明公开了一种基于IEEE 1500的嵌入式SRAM存储器测试结构及测试方法。该测试结构结合了嵌入式核测试标准IEEE 1500和内建自测试（BIST）的方法。嵌入式SRAM测试结构由嵌入式SRAM的测试壳封装与SRAM测试控制器两部分构成。测试封装壳解决了嵌入式SRAM的测试访问、测试隔离和测试的控制问题。SRAM测试控制器根据测试算法生成测试激励数据、控制封装壳Wrapper、进行响应分析、输出测试结果。应用该测试结构及测试方法，能够检测出嵌入式SRAM存储器存在的故障，有利于嵌入式SRAM存储器的测试复用，可以有效的提高SoC的集成效率。

公开(公告)号：CN202120623U

公开(公告)日：2012-01-18

申请号：CN201120248833.1

申请日：2011-07-15

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 谈恩民 ,  马江波

IPC: G11C29/12

Abstract: 本实用新型公开了一种基于IEEE1500的嵌入式SRAM存储器测试结构，该测试结构由嵌入式SRAM的测试壳封装与SRAM测试控制器两部分构成，测试封装壳解决了嵌入式SRAM的测试访问、测试隔离和测试的控制问题，SRAM测试控制器根据测试算法生成测试激励数据、控制封装壳Wrapper、进行响应分析、输出测试结果。应用该测试结构及测试方法，能够检测出嵌入式SRAM存储器存在的故障，有利于嵌入式SRAM存储器的测试复用，可以有效的提高SoC的集成效率。