公开(公告)号：CN112858244A

公开(公告)日：2021-05-28

申请号：CN202110230910.9

申请日：2021-03-02

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 肖文香 ,  支冬灿

IPC: G01N21/64

Abstract: 本发明公开一种比率型荧光检测系统及其检测方法及应用，其系统包括遮光暗室，及设置于遮光暗室内的检测板、荧光检测模块、激发光源模块和MCU系统；所述检测板上设置有用于放置荧光探针和试剂的检测槽，所述激发光源正对检测槽；所述荧光检测模块包括两组，每组均包括滤光片和光电传感器；所述MCU系统的输出端与激发光源模块连接，MCU系统的输入端与荧光检测模块连接，激发光源模块的输出光经荧光探针受激后发射的荧光再经滤光片过滤后射入光电传感器中。本发明采用比率型荧光探针具有自参比特性，对检测环境要求不再苛刻，可有效避免来自环境的干扰，检测精度高，并且可很大程度减少系统误差、抗干扰能力极强。

公开(公告)号：CN214584907U

公开(公告)日：2021-11-02

申请号：CN202120452140.8

申请日：2021-03-02

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 肖文香 ,  支冬灿

IPC: G01N21/64

Abstract: 本实用新型公开一种比率型荧光检测系统，包括遮光暗室，及设置于遮光暗室内的检测板、荧光检测模块、激发光源模块和MCU系统；所述检测板上设置有用于放置荧光探针和试剂的检测槽，所述激发光源正对检测槽；所述荧光检测模块包括两组，每组均包括滤光片和光电传感器；所述MCU系统的输出端与激发光源模块连接，MCU系统的输入端与荧光检测模块连接，激发光源模块的输出光经荧光探针受激后发射的荧光再经滤光片过滤后射入光电传感器中。本实用新型采用比率型荧光探针具有自参比特性，对检测环境要求不再苛刻，可有效避免来自环境的干扰，检测精度高，并且可很大程度减少系统误差、抗干扰能力极强。