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公开(公告)号：CN215640052U
公开(公告)日：2022-01-25
申请号：CN202121559605.6
申请日：2021-07-09
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本实用新型公开了一种光纤型光源光斑性能检测装置，包括检测接口、光纤接口和透镜组件，还包括CMOS传感器、多路开关、控制器和图像处理模块，所述一个检测接口通过多路光纤通道分别连多个光纤接口，每个光纤接口依次连接透镜组件和CMOS传感器，所述多个CMOS传感器与一个多路开关连接，所述多路开关分别连接控制器和图像处理模块，本实用新型通过采用CMOS传感器采集透镜组件整形后输出的光束，图像处理模块对已获得的图像信号进行减去参考暗电流信号的预处理，将数据传输至光谱仪进行分析与处理，在光斑性能的检测中降低了设备成本，减少了设备工作量，提高了检测精度，极大提高了光斑性能检测的效率。
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