热电离飞行时间质谱仪及热电离飞行时间质谱分析方法

    公开(公告)号:CN103268851B

    公开(公告)日:2015-12-30

    申请号:CN201310188914.0

    申请日:2013-05-21

    Abstract: 本发明热电离飞行时间质谱仪及热电离飞行时间质谱分析方法,属于质谱分析技术领域,该热电离飞行时间质谱仪主要由离子源、离子传输系统和垂直反射式飞行时间质量分析器组成;使用该质谱仪,分析样品被点在离子源中固定在样品架上的灯丝带上,通过增加灯丝带电流使样品离子化,离子束经过离子传输系中的离子传输透镜组的传输与调制,到达垂直反射式飞行时间质量分析器中,不同质量的离子经过不同的飞行时间到达检测器,实现分析样品的定性、定量或同位素分析。本发明能够快速、准确测量同位素丰度并监测杂质元素,是一种创新的质谱分析技术。

    热电离飞行时间质谱仪及热电离飞行时间质谱分析方法

    公开(公告)号:CN103268851A

    公开(公告)日:2013-08-28

    申请号:CN201310188914.0

    申请日:2013-05-21

    Abstract: 本发明热电离飞行时间质谱仪及热电离飞行时间质谱分析方法,属于质谱分析技术领域,该热电离飞行时间质谱仪主要由离子源、离子传输系统和垂直反射式飞行时间质量分析器组成;使用该质谱仪,分析样品被点在离子源中固定在样品架上的灯丝带上,通过增加灯丝带电流使样品离子化,离子束经过离子传输系中的离子传输透镜组的传输与调制,到达垂直反射式飞行时间质量分析器中,不同质量的离子经过不同的飞行时间到达检测器,实现分析样品的定性、定量或同位素分析。本发明能够快速、准确测量同位素丰度并监测杂质元素,是一种创新的质谱分析技术。

    一种铀粒子分离方法和装置

    公开(公告)号:CN106507968B

    公开(公告)日:2012-10-17

    申请号:CN200510001155.8

    申请日:2005-06-27

    Abstract: 本发明涉及一种铀粒子分离方法和装置。该方法包括采用裂变径迹刻蚀法,在裂变径迹刻蚀膜上得到铀的裂变径迹,然后用激光束在铀的裂变径迹处聚焦使铀粒子蒸发,将蒸发的铀粒子载带入硝酸吸收液中。本发明铀粒子分离装置包括一个样品移动平台,样品移动平台上方设有样品室,用以产生激光束的激光器位于样品室上方,样品室一侧与空气过滤器相连接,另一侧与吸收管进气口相连接,吸收管的出气口与大气采样器相连接,吸收管内盛有硝酸吸收液。通过本发明铀粒子分离方法及装置,可以实现铀粒子的快速分离,而且操作简便。

    热电离飞行时间质谱仪
    4.
    实用新型

    公开(公告)号:CN203367223U

    公开(公告)日:2013-12-25

    申请号:CN201320277788.1

    申请日:2013-05-21

    Abstract: 本实用新型热电离飞行时间质谱仪,属于质谱分析技术领域,该热电离飞行时间质谱仪主要由离子源、离子传输系统和垂直反射式飞行时间质量分析器组成;使用该质谱仪,分析样品被点在离子源中固定在样品架上的灯丝带上,通过增加灯丝带电流使样品离子化,离子束经过离子传输系中的离子传输透镜组的传输与调制,到达垂直反射式飞行时间质量分析器中,不同质量的离子经过不同的飞行时间到达检测器,实现分析样品的定性、定量或同位素分析。本实用新型能够快速、准确测量同位素丰度并监测杂质元素,是一种创新的质谱分析技术。

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