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公开(公告)号：CN108267497A
公开(公告)日：2018-07-10
申请号：CN201611259227.3
申请日：2016-12-30
Applicant: 核工业北京地质研究院
IPC: G01N27/62
Abstract: 本发明属于质谱分析测试技术领域，具体涉及一种热电离飞行时间质谱测定硼同位素的分析装置及方法。本发明中，热电离离子源与静电透镜之间设有闸板阀，热电离离子源产生的离子通过闸板阀后通过静电透镜进行聚焦，聚焦后的离子在加在推斥板上的脉冲电压的作用下进行偏转进入加速区，然后离子按照图中虚线所示经过无场漂移区等最终到达检测器；当推斥板上无电压时离子直接被法拉第杯接收；加速电压的下方为无场漂移区，检测器与加速电压并列位于无场漂移区上方，检测器上设有检测高压电路；无场漂移区的下方为栅极电压，栅极电压的下方为反射电压。本发明能够快速、准确测定硼同位素丰度，同时监测杂质元素信息。
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