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公开(公告)号:CN111386463A
公开(公告)日:2020-07-07
申请号:CN201980005981.X
申请日:2019-07-12
Applicant: 株式会社LG化学
Abstract: 本发明提供一种使用MALDI质谱法相对定量分析聚合物的方法,该方法包括以下步骤:(S1)根据聚合物样品的浓度,经掩模电喷射包含聚合物样品和基质的溶液以制备厚度变化为30%以下的多个聚合物试样;(S2)用激光照射各个所述多个聚合物试样以得到MALDI质谱图;和(S3)由所述MALDI质谱图的峰结果使用所述聚合物样品的信号建立定量校准曲线。根据本发明,制备由不同浓度的聚合物样品制备而成的具有均匀厚度的聚合物试样,并且由所述聚合物试样得到再现性的MALDI质谱图,然后使用谱图中示出的聚合物样品的峰和基质或内标物的峰建立定量校准曲线,从而可以相对定量分析聚合物。
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公开(公告)号:CN111386463B
公开(公告)日:2022-11-01
申请号:CN201980005981.X
申请日:2019-07-12
Applicant: 株式会社LG化学
Abstract: 本发明提供一种使用MALDI质谱法相对定量分析聚合物的方法,该方法包括以下步骤:(S1)根据聚合物样品的浓度,经掩模电喷射包含聚合物样品和基质的溶液以制备厚度变化为30%以下的多个聚合物试样;(S2)用激光照射各个所述多个聚合物试样以得到MALDI质谱图;和(S3)由所述MALDI质谱图的峰结果使用所述聚合物样品的信号建立定量校准曲线。根据本发明,制备由不同浓度的聚合物样品制备而成的具有均匀厚度的聚合物试样,并且由所述聚合物试样得到再现性的MALDI质谱图,然后使用谱图中示出的聚合物样品的峰和基质或内标物的峰建立定量校准曲线,从而可以相对定量分析聚合物。
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