公开(公告)号：CN112584917B

公开(公告)日：2023-02-17

申请号：CN201980055074.6

申请日：2019-10-18

Applicant: 株式会社LG化学

Inventor： 洪慈敏 ,  全亨濬 ,  申程圭 ,  李炳洙

IPC: B01D65/10

Abstract: 本说明书提供了用于检测分离膜元件的缺陷的方法和用于检测分离膜元件的缺陷的装置。

公开(公告)号：CN112584917A

公开(公告)日：2021-03-30

申请号：CN201980055074.6

申请日：2019-10-18

Applicant: 株式会社LG化学

Inventor： 洪慈敏 ,  全亨濬 ,  申程圭 ,  李炳洙

IPC: B01D65/10

Abstract: 本说明书提供了用于检测分离膜元件的缺陷的方法和用于检测分离膜元件的缺陷的装置。