具有增强的检测低电压能力的二次电池激活方法

    公开(公告)号:CN112368873A

    公开(公告)日:2021-02-12

    申请号:CN202080003822.9

    申请日:2020-01-03

    Abstract: 本发明涉及二次电池激活方法,包括:在室温下用于老化二次电池的预老化步骤(S100),所述二次电池包括包含正电极活性材料的正电极、包含负电极活性材料的负电极、被设置在正电极和负电极之间的分隔件,和电解质;用于将预老化的二次电池一次充电到60%或以上的二次电池容量(SOC)的充电步骤(S200);用于在高温下老化已一次充电的二次电池的高温老化步骤(S300);以及用于在室温下老化已在高温下老化的二次电池的室温老化步骤(S400),其中,高温老化步骤在60℃或更高的温度下进行。通过由一次充电均匀稳定地形成负电极SEI膜并通过高温老化加速SEI膜的稳定化,从而降低良好产品的电压降并改善其变化,本发明的激活方法具有增强检测低电压缺陷能力的效果。

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