公开(公告)号：CN115427831B

公开(公告)日：2025-03-25

申请号：CN202180028772.4

申请日：2021-04-01

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 高棹大辅

IPC: G01S7/487 ,  G01S17/931 ,  G08G1/16

Abstract: 本发明的光测距装置(200)具备：发光部(40)，射出射出光(DL)；受光部(60)，具有用于接受入射光的受光像素(66)，输出与受光像素接受到的入射光的受光强度对应的检测信号；以及控制装置(100)，从受光部获取检测信号，并使用检测信号来检测距物体的距离，其中，受光部接受与被物体(OB)反射的射出光对应的反射光(RL)作为入射光，检测信号与反射光的受光强度对应。在检测出第一物体(OB1)和第二物体(OB2)，且判定为第二物体是与第一物体对应的伪物体的情况下，控制装置可以去除第二物体的检测结果，其中，第二物体在连结光测距装置和第一物体的直线(OL)的延长线上位于距第一物体的距离(D1)的N倍(N为2以上的自然数)的距离(D2)的位置。

公开(公告)号：CN116134335A

公开(公告)日：2023-05-16

申请号：CN202180060458.4

申请日：2021-07-01

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 秋山启子 ,  高棹大辅 ,  城幸宏 ,  野口仁志

IPC: G01S7/4863

Abstract: 检测物体的物体检测装置(10、10a、10b、10c)具备：受光部(20)，具有能够受光入射光(RL)的多个受光元件(220)以面状排列而成的受光面，上述入射光包含射出的照射光(IL)的反射光，将受光面的可使用区域(Ar1、Ar2)中的预先设定的使用区域作为第1区域(U1)，输出与第1区域内的受光元件的受光状态对应的第1受光信号；图像取得部(115)，使用第1受光信号，取得表示环境光的受光强度的环境光图像(Img1)；以及故障检测部(113)，使用环境光图像，检测第1区域内的受光元件的故障。

公开(公告)号：CN115427831A

公开(公告)日：2022-12-02

申请号：CN202180028772.4

申请日：2021-04-01

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 高棹大辅

IPC: G01S7/487 ,  G01S17/931 ,  G08G1/16

Abstract: 本发明的光测距装置(200)具备：发光部(40)，射出射出光(DL)；受光部(60)，具有用于接受入射光的受光像素(66)，输出与受光像素接受到的入射光的受光强度对应的检测信号；以及控制装置(100)，从受光部获取检测信号，并使用检测信号来检测距物体的距离，其中，受光部接受与被物体(OB)反射的射出光对应的反射光(RL)作为入射光，检测信号与反射光的受光强度对应。在检测出第一物体(OB1)和第二物体(OB2)，且判定为第二物体是与第一物体对应的伪物体的情况下，控制装置可以去除第二物体的检测结果，其中，第二物体在连结光测距装置和第一物体的直线(OL)的延长线上位于距第一物体的距离(D1)的N倍(N为2以上的自然数)的距离(D2)的位置。