公开(公告)号：CN104422379A

公开(公告)日：2015-03-18

申请号：CN201410431612.6

申请日：2014-08-28

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 泷口智之 ,  胡安德宇枯宁 ,  河野祯之 ,  水沼赳人

IPC: G01B7/00 ,  G01B7/30

Abstract: 位置检测器装置(1)包括检测器部件(30、130)、配线(40)、树脂部件(50)、树脂体(160)、端子(150)和引线框(140)。树脂部件在所述检测器部件的配线侧部处具有厚度(A、D)，其比在与所述配线侧部相反的一侧上的厚度(B、E)大。因此，当注射成型树脂部件时，由于树脂部件的厚度变化，检测器部件被压靠金属模具并且检测器部件(30)的位置被固定。而且，树脂体(160)具有厚树脂部(162)和薄树脂部(161)。薄树脂部的厚度允许检测器部件的预定移位量。因此，如果检测器部件(130)被露出，防止水侵入引线框和端子。

公开(公告)号：CN104422379B

公开(公告)日：2020-01-03

申请号：CN201410431612.6

申请日：2014-08-28

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 泷口智之 ,  胡安德宇枯宁 ,  河野祯之 ,  水沼赳人

IPC: G01B7/00 ,  G01B7/30

Abstract: 位置检测器装置(1)包括检测器部件(30、130)、配线(40)、树脂部件(50)、树脂体(160)、端子(150)和引线框(140)。树脂部件在所述检测器部件的配线侧部处具有厚度(A、D)，其比在与所述配线侧部相反的一侧上的厚度(B、E)大。因此，当注射成型树脂部件时，由于树脂部件的厚度变化，检测器部件被压靠金属模具并且检测器部件(30)的位置被固定。而且，树脂体(160)具有厚树脂部(162)和薄树脂部(161)。薄树脂部的厚度允许检测器部件的预定移位量。因此，如果检测器部件(130)被露出，防止水侵入引线框和端子。

公开(公告)号：CN104142121B

公开(公告)日：2018-05-15

申请号：CN201410192677.X

申请日：2014-05-08

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 西本圣司 ,  河野祯之 ,  胡安德宇枯宁

IPC: G01B7/30

CPC classification number: G01D5/12 ,  G01D5/142 ,  G01D5/145 ,  G01D5/2033 ,  G01D5/2241 ,  G04C5/00 ,  H02K49/102

Abstract: 本发明公开了一种旋转位置检测装置。磁通发射单元(20)被安装到检测对象(20)上并且可以与检测对象(2)一体旋转。IC封装(30)包括磁检测元件(31)其根据在磁通发射元件(20)旋转时引起的磁通方向的改变发射信号。盖元件(40)包括底部(41)和管状部分(42)。管状部分(42)从底部(41)的外周延伸。当安装到壳体(5)时，盖元件(40)用底部围绕磁通发射单元(20)。支撑部分(50)从底部(41)朝管状部分(42)的开口(44)伸出以便支撑IC封装(30)。凸出物(60，70)从底部(41)朝向开口(44)伸出到至少一对应于磁检测元件(31)的位置。

公开(公告)号：CN104142121A

公开(公告)日：2014-11-12

申请号：CN201410192677.X

申请日：2014-05-08

Applicant: 株式会社电装

Inventor： 西本圣司 ,  河野祯之 ,  胡安德宇枯宁

IPC: G01B7/30

CPC classification number: G01D5/12 ,  G01D5/142 ,  G01D5/145 ,  G01D5/2033 ,  G01D5/2241 ,  G04C5/00 ,  H02K49/102

Abstract: 本发明公开了一种旋转位置检测装置。磁通发射单元(20)被安装到检测对象(20)上并且可以与检测对象(2)一体旋转。IC封装(30)包括磁检测元件(31)其根据在磁通发射元件(20)旋转时引起的磁通方向的改变发射信号。盖元件(40)包括底部(41)和管状部分(42)。管状部分(42)从底部(41)的外周延伸。当安装到壳体(5)时，盖元件(40)用底部围绕磁通发射单元(20)。支撑部分(50)从底部(41)朝管状部分(42)的开口(44)伸出以便支撑IC封装(30)。凸出物(60，70)从底部(41)朝向开口(44)伸出到至少一对应于磁检测元件(31)的位置。