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公开(公告)号：CN100549705C
公开(公告)日：2009-10-14
申请号：CN200580016960.6
申请日：2005-01-05
Applicant: 株式会社村田制作所
IPC: G01R27/28
CPC classification number: G01R35/005 , G01R27/32 , Y10T29/49764
Abstract: 提供一种能高精度处理具有非信号线端口且电特性因夹具而变化的电子部件的测量误差校正方法和电子部件特性测量装置。该校正方法具有以安装在能测量非信号线端口的测试夹具的状态和安装在不能测量非信号线端口的基准夹具的状态，对校正数据获取用试样测量电特性的第1步骤；以装测试夹具的状态和装基准夹具的状态，对电连接信号线端口和非信号线端口的贯通件进行测量的第2步骤；决定从装测试夹具的状态的测量结果算出以装基准夹具的状态进行测量时的电特性的估计值用的公式的第3步骤；以装测试夹具的状态，测量任意电子部件的第4步骤；以及用决定的公式，算出装基准夹具的状态的电特性的估计值的第5步骤。
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公开(公告)号：CN102520258A
公开(公告)日：2012-06-27
申请号：CN201110363325.2
申请日：2007-11-29
Applicant: 株式会社村田制作所
CPC classification number: G01R35/005 , G01R27/28
Abstract: 电子部件的高频特性误差修正方法，能够在成为修正对象的测量系统保持和实测时相同的状态下，对于2端子阻抗部件进行校正作业。用基准测量系统和实测测量系统测量高频特性不同的至少3个修正数据取得用试料，决定使用传输线路的误差修正系数将用实测测量系统测量的测量值和用基准测量系统测量的测量值联系起来的公式。用基准测量系统测量任意的电子部件，使用决定的公式，计算出如果用基准测量系统测量该电子部件将会获得的该电子部件的高频特性的推定值。
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公开(公告)号：CN101932942A
公开(公告)日：2010-12-29
申请号：CN200880126131.7
申请日：2008-12-08
Applicant: 株式会社村田制作所
Inventor： 森太一
CPC classification number: G01R27/28 , G01R35/005
Abstract: 本发明提供一种测定误差的修正方法及电子元器件特性测定装置，可消除因测定夹具的端口间的泄漏信号分量造成的修正误差，以提高修正精度。对于具有互异电学特性的修正数据获取试样，根据安装于基准测定夹具(20)的状态与安装于测试测定夹具(30)的状态下测定电学特性SD、ST的结果，来决定使在测试测定夹具安装状态下的测定值与在基准测定夹具安装状态下的测定值相关联的数学式CAij。数学式CAij是假设基准测定夹具与测试测定夹具中至少一者的至少2个端口间存在有直接传递的泄漏信号的数学式。对于任意电子元器件，在安装于测试测定夹具(30)的状态下测定电学特性，并使用已决定的数学式CAij，来算出所述电子元器件在安装于基准测定夹具(20)的状态下测定时应可得到的电学特性。
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公开(公告)号：CN106062571B
公开(公告)日：2018-10-30
申请号：CN201580011536.6
申请日：2015-02-17
Applicant: 株式会社村田制作所
Abstract: 本发明考虑到由测定夹具使测定值产生误差的三个原因(传输线路的不同，直达波的不同，非传输线路的不同)，能对测定夹具间的测定值差高精度地进行校正。针对相对误差校正电路网模型(38)的全部的系数，利用最大似然法计算似然值，基于如下假设导出该相对误差校正电路网模型：对于从与高频信号的施加或检测有关的信号线端口和信号线端口以外的非信号线端口中选出的所有两个端口间的组合，假设存在直接传输的泄漏信号。利用第一相对误差校正电路网子模型的系数和第二相对误差校正电路网子模型的非信号端口的系数，作为初始值，基于如下假设导出第一相对误差校正电路网子模型：针对仅从信号线端口选出的所有两个端口间的组合，假设存在有在端口间直接传输的泄漏信号；基于如下假设导出第二相对误差校正电路网子模型：假设存在在非信号线端口反射的信号。
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公开(公告)号：CN102520258B
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201110363325.2
申请日：2007-11-29
Applicant: 株式会社村田制作所
CPC classification number: G01R35/005 , G01R27/28
Abstract: 电子部件的高频特性误差修正方法，能够在成为修正对象的测量系统保持和实测时相同的状态下，对于2端子阻抗部件进行校正作业。用基准测量系统和实测测量系统测量高频特性不同的至少3个修正数据取得用试料，决定使用传输线路的误差修正系数将用实测测量系统测量的测量值和用基准测量系统测量的测量值联系起来的公式。用基准测量系统测量任意的电子部件，使用决定的公式，计算出如果用基准测量系统测量该电子部件将会获得的该电子部件的高频特性的推定值。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101932942B
公开(公告)日：2014-01-29
申请号：CN200880126131.7
申请日：2008-12-08
Applicant: 株式会社村田制作所
Inventor： 森太一
CPC classification number: G01R27/28 , G01R35/005
Abstract: 本发明提供一种测定误差的修正方法及电子元器件特性测定装置，可消除因测定夹具的端口间的泄漏信号分量造成的修正误差，以提高修正精度。对于具有互异电学特性的修正数据获取试样，根据安装于基准测定夹具(20)的状态与安装于测试测定夹具(30)的状态下测定电学特性SD、ST的结果，来决定使在测试测定夹具安装状态下的测定值与在基准测定夹具安装状态下的测定值相关联的数学式CAij。数学式CAij是假设基准测定夹具与测试测定夹具中至少一者的至少2个端口间存在有直接传递的泄漏信号的数学式。对于任意电子元器件，在安装于测试测定夹具(30)的状态下测定电学特性，并使用已决定的数学式CAij，来算出所述电子元器件在安装于基准测定夹具(20)的状态下测定时应可得到的电学特性。
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公开(公告)号：CN106062572A
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201580011672.5
申请日：2015-02-17
Applicant: 株式会社村田制作所
Abstract: 本发明提供了一种电路网的S参数导出方法，能正确并且迅速地计算包含非对称电路网的电路网整体的S参数。准备具有输入端口和连接端口的第一电路网(60)的第一S参数，测定第二电路网(4)的第二S参数，对在第一电路网(60)的连接端口连接了第二电路网(4)而得到的电路网整体(66)的整体S参数进行计算。在第一电路网(60)的输入端口侧追加虚设端口，将第一电路网(60)转换为对称电路网，得到假想第一电路网(62)，将假想第一电路网(62)的假想T参数中虚设端口所对应的参数用作未知数，作为电路网整体(66)的S参数，对在假想第一电路网(62)的连接端口连接了第二电路网(4)而得到的假想电路网整体(68)的假想S参数中输入端口所对应的整体S参数进行计算。
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公开(公告)号：CN106062571A
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201580011536.6
申请日：2015-02-17
Applicant: 株式会社村田制作所
CPC classification number: G01R35/007 , G01R27/28 , G01R27/32 , G01R35/00
Abstract: 本发明考虑到由测定夹具使测定值产生误差的三个原因(传输线路的不同，直达波的不同，非传输线路的不同)，能对测定夹具间的测定值差高精度地进行校正。针对相对误差校正电路网模型(38)的全部的系数，利用最大似然法计算似然值，基于如下假设导出该相对误差校正电路网模型：对于从与高频信号的施加或检测有关的信号线端口和信号线端口以外的非信号线端口中选出的所有两个端口间的组合，假设存在直接传输的泄漏信号。利用第一相对误差校正电路网子模型的系数和第二相对误差校正电路网子模型的非信号端口的系数，作为初始值，基于如下假设导出第一相对误差校正电路网子模型：针对仅从信号线端口选出的所有两个端口间的组合，假设存在有在端口间直接传输的泄漏信号；基于如下假设导出第二相对误差校正电路网子模型：假设存在非信号线端口反射的信号。
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公开(公告)号：CN101258412B
公开(公告)日：2013-02-20
申请号：CN200680031064.1
申请日：2006-08-23
Applicant: 株式会社村田制作所
IPC: G01R27/06
Abstract: 本发明提供一种实质上通过标量测定器实施被检测体的散射系数的矢量测定，能减小测定器的规模，并且能减少成本的测定方法和测定装置。准备测定系统，该测定系统具有对被检测体提供信号的信号源(1)、将被检测体的反射波或者透过波作为标量值测定的标量测定器(5、13)、对于被检测体的反射波或者透过波分别叠加预先付与关系值的3个不同的矢量信号的叠加信号系统。对被检测体的反射波或者透过波叠加3个矢量信号，通过标量测定器(5、13)将各叠加信号分别作为标量值测定。使用3个矢量信号的被赋值的关系值，将所测定的3个标量值变换为一个矢量值，取得被检测体的散射系数。
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公开(公告)号：CN101542299A
公开(公告)日：2009-09-23
申请号：CN200780044053.1
申请日：2007-11-29
Applicant: 株式会社村田制作所
CPC classification number: G01R35/005 , G01R27/28
Abstract: 电子部件的高频特性误差修正方法，能够在成为修正对象的测量系统保持和实测时相同的状态下，对于2端子阻抗部件进行校正作业。用基准测量系统和实测测量系统测量高频特性不同的至少3个修正数据取得用试料，决定使用传输线路的误差修正系数将用实测测量系统测量的测量值和用基准测量系统测量的测量值联系起来的公式。用基准测量系统测量任意的电子部件，使用决定的公式，计算出如果用基准测量系统测量该电子部件将会获得的该电子部件的高频特性的推定值。
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