分析装置以及分析方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105103155B

    公开(公告)日:2018-05-08

    申请号:CN201480018291.5

    申请日:2014-03-27

    CPC classification number: G01H17/00 G01H1/00 G01H11/08 G06F17/5018

    Abstract: 分析装置(11)利用电路基板(22)和介质(M)来构建分析模型(21),并向电路基板(22)提供由集中载荷(CLa)~(CLd)构成的集中载荷组(CLG)。此时,集中载荷(CLa)~(CLd)设定成彼此的矢量和为零,且与重心有关的转矩为零。分析装置(11)对分析模型(21)应用有限元法,求出集中载荷(CLa)~(CLd)以一定周期振动时的电路基板(22)的振动。根据该电路基板(22)的振动来运算介质(M)的压力变化,将该压力变化换算为声压。

    分析装置以及分析方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105103155A

    公开(公告)日:2015-11-25

    申请号:CN201480018291.5

    申请日:2014-03-27

    CPC classification number: G01H17/00 G01H1/00 G01H11/08 G06F17/5018

    Abstract: 分析装置(11)利用电路基板(22)和介质(M)来构建分析模型(21),并向电路基板(22)提供由集中载荷(CLa)~(CLd)构成的集中载荷组(CLG)。此时,集中载荷(CLa)~(CLd)设定成彼此的矢量和为零,且与重心有关的转矩为零。分析装置(11)对分析模型(21)应用有限元法,求出集中载荷(CLa)~(CLd)以一定周期振动时的电路基板(22)的振动。根据该电路基板(22)的振动来运算介质(M)的压力变化,将该压力变化换算为声压。

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