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公开(公告)号:CN115244404A
公开(公告)日:2022-10-25
申请号:CN202180019357.2
申请日:2021-01-26
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N35/00
Abstract: 本发明提供一种自动分析装置,即使在产生了局部的温度变动的情况下也能够适当地控制培养箱的大部分的温度。一种分析检体的自动分析装置,其特征在于,具备:培养箱,其保持容纳所述检体和试剂的混合液的多个容器;热源,其对所述培养箱进行加热或冷却;多个温度传感器,其设置于所述培养箱的不同位置,并测定温度;以及控制部,其基于所述温度传感器的各测定温度中的最高温度或最低温度与目标温度的差异来控制所述热源的输出。