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公开(公告)号：CN113811773B
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202080033315.X
申请日：2020-03-18
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 在假设有多个污染因素的分注机构、反应容器中，避免转移并维持分析性能。包括：具备将样品或试剂分注到反应容器中的探针的分注机构；由将探针充分清洗的清洗机构等构成的自动分析部(100)；以及控制部(124)，控制部包括：对表示根据多个分析条件而预先设定的针对污染的加权的值即计数值进行存储的存储部(124a)；基于所存储的计数值、针对样品、试剂的每一次分注求出累积计数、并判定所求出的累积计数是否超过预先设定的阈值的处理部(124b)；以及在判定的结果是超过阈值的情况下指示清洗机构进行动作以使其清洗探针的指示部(124c)。
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公开(公告)号：CN116848416A
公开(公告)日：2023-10-03
申请号：CN202280014776.1
申请日：2022-03-01
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N35/00
Abstract: 本发明的目的在于提供一种自动分析装置，其能够实现光源的长寿命化，并且在测定前使光量在短时间内稳定。因此，本发明的自动分析装置具备：光源，其具有波长不同的两个以上的LED元件；分析部，其基于照射到反应容器的光进行分析；以及电流调整部，其调整向每个所述LED元件供给的电流量，所述电流调整部使非分析状态下的每个所述LED元件的电流量为相对于分析状态下的电流量单独减少后的值。
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公开(公告)号：CN110036296B
公开(公告)日：2022-10-21
申请号：CN201780074243.1
申请日：2017-11-07
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本发明涉及自动分析装置，提供能够实现包括尖端吸引工序的清洗工艺对反应容器的清洗性能的确保和分析精度的降低抑制或提高的技术。自动分析装置具有控制装置、将用于吸引反应容器内的液体的吸引喷嘴及吸引块上下移动并吸引液体的块吸引机构、以及用于清洗吸引块的块清洗机构。控制装置自接受分析委托起，在分析工序(S30)之前的清洗工序(S20)的最后的尖端吸引工序(S14)中，在第一工序(S21)执行块吸引机构对液体的吸引(202)、及块清洗机构对吸引块的清洗(201)双方，然后在由1个循环以上构成的第二工序(S22)中仅执行块吸引机构对液体的吸引(202)，且使用经过了第二工序(S22)的反应容器执行分析工序(S30)。
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公开(公告)号：CN112639487A
公开(公告)日：2021-04-09
申请号：CN201980056401.X
申请日：2019-07-02
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N35/10
Abstract: 清洗槽(19、20、21)具有：向喷嘴(10、12、14)的表面喷出清洗水的清洗位置(25a、25b、25c)；对喷嘴(10、12、14)的表面附着的清洗水进行抽吸的干燥位置(26a、26b、26c)，控制装置(24)在喷嘴(10、12、14)的从清洗位置(25a、25b、25c)向干燥位置(26a、26b、26c)的移动过程中进行从喷嘴(10、12、14)的第一次的系统水的喷出，在干燥位置(26a、26b、26c)的对喷嘴(10、12、14)表面的清洗水的抽吸过程中进行从喷嘴的第二次的系统水的喷出。由此，能够将在喷嘴的清洗时附着的水滴有效地除去。
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公开(公告)号：CN116519962A
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN202310488436.9
申请日：2017-11-08
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本发明抑制伴随温度变化的检体或试剂等的分注精度的降低。在自动分析装置(1)中，分注喷嘴(13)从保持试料的样品容器吸引试料以及向反应容器(60)吐出试料。注射泵(16)控制水的体积变化量。第一配管(31)连接分注喷嘴(13)和注射泵(16)。电磁阀(18)使水流动或停止。第二配管(32)连接电磁阀(18)和注射泵(16)。分支管(30)使水分支。第三配管(33)连接电磁阀(18)和分支管(30)。箱体(40)至少收纳注射泵(16)、第一配管(31)、电磁阀(18)、第二配管(32)、分支管(30)、以及第三配管(33)。而且，第三配管(33)具有进行水的热交换的热交换部(41)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110036297B
公开(公告)日：2023-05-05
申请号：CN201780075103.6
申请日：2017-11-08
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本发明抑制伴随温度变化的检体或试剂等的分注精度的降低。在自动分析装置(1)中，分注喷嘴(13)从保持试料的样品容器吸引试料以及向反应容器(60)吐出试料。注射泵(16)控制水的体积变化量。第一配管(31)连接分注喷嘴(13)和注射泵(16)。电磁阀(18)使水流动或停止。第二配管(32)连接电磁阀(18)和注射泵(16)。分支管(30)使水分支。第三配管(33)连接电磁阀(18)和分支管(30)。箱体(40)至少收纳注射泵(16)、第一配管(31)、电磁阀(18)、第二配管(32)、分支管(30)、以及第三配管(33)。而且，第三配管(33)具有进行水的热交换的热交换部(41)。
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公开(公告)号：CN109690325B
公开(公告)日：2022-09-06
申请号：CN201780056407.8
申请日：2017-08-04
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N35/10
Abstract: 本发明实现能够与反应容器、试样喷嘴的个体差异无关地控制试样喷嘴的前端与反应容器的底的间隔且能够抑制试样向试样喷嘴的附着的自动分析装置。使试样喷嘴(13a、14a)向反应容器(2)的底面移动，在停止位置探测器(46)探测到停止位置探测板(45)的时刻使移动停止，从该位置上升至停止位置探测板(45)离开停止位置探测器(46)的探测范围的位置，进一步地使臂(44)向上方移动保存于存储器的移动距离。能够在使试样喷嘴(13a、14a)的前端与反应容器(2)的底面接触的状态且抑制试样喷嘴(13a、14a)的弯曲的状态下，使试样喷嘴(13a、14a)停止而吐出试样。
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公开(公告)号：CN113811773A
公开(公告)日：2021-12-17
申请号：CN202080033315.X
申请日：2020-03-18
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 在假设有多个污染因素的分注机构、反应容器中，避免转移并维持分析性能。包括：具备将样品或试剂分注到反应容器中的探针的分注机构；由将探针充分清洗的清洗机构等构成的自动分析部(100)；以及控制部(124)，控制部包括：对表示根据多个分析条件而预先设定的针对污染的加权的值即计数值进行存储的存储部(124a)；基于所存储的计数值、针对样品、试剂的每一次分注求出累积计数、并判定所求出的累积计数是否超过预先设定的阈值的处理部(124b)；以及在判定的结果是超过阈值的情况下指示清洗机构进行动作以使其清洗探针的指示部(124c)。
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公开(公告)号：CN110036296A
公开(公告)日：2019-07-19
申请号：CN201780074243.1
申请日：2017-11-07
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本发明涉及自动分析装置，提供能够实现包括尖端吸引工序的清洗工艺对反应容器的清洗性能的确保和分析精度的降低抑制或提高的技术。自动分析装置具有控制装置、将用于吸引反应容器内的液体的吸引喷嘴及吸引块上下移动并吸引液体的块吸引机构、以及用于清洗吸引块的块清洗机构。控制装置自接受分析委托起，在分析工序(S30)之前的清洗工序(S20)的最后的尖端吸引工序(S14)中，在第一工序(S21)执行块吸引机构对液体的吸引(202)、及块清洗机构对吸引块的清洗(201)双方，然后在由1个循环以上构成的第二工序(S22)中仅执行块吸引机构对液体的吸引(202)，且使用经过了第二工序(S22)的反应容器执行分析工序(S30)。
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公开(公告)号：CN113287022B
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN201980074320.2
申请日：2019-10-30
Applicant: 株式会社日立高新技术
IPC: G01N35/00 , G01N27/28 , G01N27/416
Abstract: 自动进行样品的分析的分析单元(111)包括分注样品的样品分注喷嘴(2)、以及至少在样品的电位测定前实施一次以上的内部标准液的测定的电解质测定部(114)，在通过电解质测定部实施电位测定而在测定间隔产生空闲的情况下，变更电位测定前的内部标准液的测定动作。由此，提供一种自动分析装置、自动分析系统及样品的自动分析方法，每当进行电解质测定时都能降低环境温度的影响以确保测定精度，并且能力图提高装置整体的处理能力。(114)连续实施样品的电位测定的情况和不连续
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