半导体基板搬送装置
    1.
    外观设计

    公开(公告)号:CN306856034S

    公开(公告)日:2021-09-28

    申请号:CN202130289714.X

    申请日:2021-05-14

    Abstract: 1.本外观设计产品的名称:半导体基板搬送装置。
    2.本外观设计产品的用途:本产品为一种半导体基板搬送装置,其应用于半导体制造领域中的各种装置上。
    例如,将本产品与用于评估半导体基板的单元,半导体基板盒承载台等同时使用,构成半导体基板评估装置。
    3.本外观设计产品的设计要点:在于如立体图所示内容最能表达本外观设计产品的设计要点。
    4.最能表明设计要点的图片或照片:立体图。
    5.在标示出各部名称参考图及使用状态参考图中,B‑半导体基板搬送入口门开口部,C‑吸气孔,D‑本外观设计产品,E‑半导体基板搬送入口门,F‑半导体基板盒承载台,G‑评估单元。

    半导体基板评估装置
    2.
    外观设计

    公开(公告)号:CN306856035S

    公开(公告)日:2021-09-28

    申请号:CN202130289717.3

    申请日:2021-05-14

    Abstract: 1.本外观设计产品的名称:半导体基板评估装置。
    2.本外观设计产品的用途:本产品为一种半导体基板评估装置,其应用于半导体制造领域中。
    当将包含有检查半导体基板的单独半导体基板盒放置在半导体基板盒承载台上时,半导体基板被传送到本产品的测量(评估)单元并对半导体基板形成的模式尺寸进行测量(评估)。
    3.本外观设计产品的设计要点:在于如立体图所示内容最能表达本外观设计产品的设计要点。
    4.最能表明设计要点的图片或照片:立体图。
    5.在标示出各部名称参考图中,C‑吸气孔,D‑半导体基板搬送入口门,E‑半导体基板盒承载台,F‑搬送单元,G‑测量单元(评估单元)。

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