公开(公告)号：CN117616286A

公开(公告)日：2024-02-27

申请号：CN202280048331.5

申请日：2022-07-19

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 伊藤寿 ,  福村真实 ,  杉村祯昭 ,  小口想

IPC: G01N35/08

Abstract: 本发明提供一种实现磁性粒子的捕集率的增大的试样分析装置。试样分析装置具备：流路，其将包含与特定物质结合后的磁性粒子的试样液导入捕捉区域；供给单元，其向所述流路供给所述试样液；捕捉单元，其具有产生磁场的磁场构造并利用所述磁场使所述磁性粒子吸附于所述捕捉区域；测定单元，其测定吸附于所述捕捉区域的所述特定物质；以及排出单元，其在所述测定单元测定之后，将所述磁性粒子从所述流路排出。所述磁场构造具备配置于所述流路的外侧且磁化方向各不相同的多个磁铁，所述多个磁铁配置为，所述流路侧的磁通密度比与所述流路相反一侧的磁通密度大。

公开(公告)号：CN119032277A

公开(公告)日：2024-11-26

申请号：CN202380034023.1

申请日：2023-03-07

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 伊藤寿 ,  杉村祯昭

IPC: G01N35/08

Abstract: 本发明的目的在于提供一种试样分析装置，即使发生磁铁位置偏移，流路内的磁场也难以发生位置偏移，能够进行高精度的分析。为此，本发明提供一种试样分析装置，具备：流路，其导入包括与标记物质结合的磁性粒子的试样液；送液单元，其向所述流路内供给以及排出所述试样液；磁场施加单元，其施加捕捉所述流路内的所述磁性粒子的磁场；以及检测器，其检测与被捕捉了的所述磁性粒子结合的所述标记物质。所述磁场施加单元由多个部件构成，至少一个部件与所述流路一体地形成。