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公开(公告)号：CN118402038A
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202280083478.8
申请日：2022-01-26
Applicant: 株式会社日立高新技术
Abstract: 本发明为了提供一种能够缩短获得遍及宽质量电荷比范围的质谱所需的时间的质量分析装置，包括：由试料生成离子的离子化部、根据质量电荷比分离所述离子的滤质器、以及检测由所述滤质器分离的离子的检测部，该质量分析装置的特征在于，还包括：将所述离子输送到所述滤质器的离子导向器；以及控制部，该控制部一边执行使施加到所述离子导向器的高频电压随时间增加的扫描控制和使所述高频电压保持恒定的步进控制，一边使用所得到的检测信号来生成质谱或质量色谱图。
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