公开(公告)号：CN1150628C

公开(公告)日：2004-05-19

申请号：CN97199501.X

申请日：1997-10-30

Applicant: 株式会社日立制作所 ,  日本超大规模集成电路系统株式会社

Inventor： 石塚裕康 ,  奥山幸佑 ,  久保田胜彦

IPC: H01L29/87 ,  H01L27/04

CPC classification number: H01L27/0251 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

Abstract: 为了消除由于加于外部端子上的过电压的极性造成的抗ESD性的差异，提高半导体集成电路器件对于正和负过压的抗ESD性，在外部端子和地电位之间，设置具有晶闸管结构的保护元件，用于保护内部电路不受正过压影响，提供由二极管D1构成的保护元件，保护内部电路不受负过压影响。

公开(公告)号：CN1236485A

公开(公告)日：1999-11-24

申请号：CN97199501.X

申请日：1997-10-30

Applicant: 株式会社日立制作所 ,  日本超大规模集成电路系统株式会社

Inventor： 石塚裕康 ,  奥山幸佑 ,  久保田胜彦

IPC: H01L29/87 ,  H01L27/04

CPC classification number: H01L27/0251 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

Abstract: 为了消除由于加于外部端子上的过电压的极性造成的抗ESD性的差异,提高半导体集成电路器件对于正和负过压的抗ESD性,在外部端子和地电位之间,设置具有晶闸管结构的保护元件,用于保护内部电路不受正过压影响,提供由二极管D1构成的保护元件,保护内部电路不受负过压影响。

公开(公告)号：CN1521848A

公开(公告)日：2004-08-18

申请号：CN200410028276.7

申请日：1997-10-30

Applicant: 株式会社日立制作所 ,  日立超大规模集成电路系统株式会社

Inventor： 石塚裕康 ,  奥山幸佑 ,  久保田胜彦

IPC: H01L27/04 ,  H01L29/74 ,  H01L29/87 ,  H01L23/60

CPC classification number: H01L27/0251 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

Abstract: 为了消除由于加于外部端子上的过电压的极性造成的抗ESD性的差异，提高半导体集成电路器件对于正和负过压的抗ESD性，在外部端子和接地电位之间，设置具有晶闸管结构的保护元件，用于保护内部电路不受正过压影响，提供由二极管D1构成的保护元件，保护内部电路不受负过压影响。