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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106233134A
公开(公告)日：2016-12-14
申请号：CN201480078005.4
申请日：2014-04-16
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: G01N29/04
CPC classification number: G01N29/075 , G01N29/4427 , G01N2291/012 , G01N2291/0422
Abstract: 本发明的目的在于提供一种能够对金属材料中存在的微小的缺陷或者夹杂物高精度地进行检测的超声波检查装置以及检查方法。为了达成上述目的，本发明的超声波检查装置的特征在于，具有：偏振控制探头，其产生具有第一振动方向的横波超声波与具有第二振动方向的横波超声波；波形生成部，其对具有第一振动方向的横波超声波与具有第二振动方向的横波超声波的各个的相位差进行控制；波形解析部，其根据偏振控制探头的接收波形，对具有第一振动方向的横波超声波与具有第二振动方向的横波超声波进行运算来计算合成波形；以及显示器，其显示通过波形解析部获得的合成波形。
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公开(公告)号：CN106233134B
公开(公告)日：2019-07-19
申请号：CN201480078005.4
申请日：2014-04-16
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: G01N29/04
CPC classification number: G01N29/075 , G01N29/4427 , G01N2291/012 , G01N2291/0422
Abstract: 本发明的目的在于提供一种能够对金属材料中存在的微小的缺陷或者夹杂物高精度地进行检测的超声波检查装置以及检查方法。为了达成上述目的，本发明的超声波检查装置的特征在于，具有：偏振控制探头，其产生具有第一振动方向的横波超声波与具有第二振动方向的横波超声波；波形生成部，其对具有第一振动方向的横波超声波与具有第二振动方向的横波超声波的各个的相位差进行控制；波形解析部，其根据偏振控制探头的接收波形，对具有第一振动方向的横波超声波与具有第二振动方向的横波超声波进行运算来计算合成波形；以及显示器，其显示通过波形解析部获得的合成波形。
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公开(公告)号：CN100394174C
公开(公告)日：2008-06-11
申请号：CN200310123047.9
申请日：2003-12-23
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: G01N29/00
CPC classification number: G01N29/4436 , G01N29/221 , G01N2291/011 , G01N2291/0258 , G01N2291/02827 , G01N2291/02854 , G01N2291/0421 , G01N2291/0422 , G01N2291/044 , G01N2291/102 , G01N2291/2634
Abstract: 本发明的目的是提供一种虽利用导波的群速度变化的频带，但可以总括长距离区间进行高灵敏度检查的非破坏性检查方法及装置。给波形生成及解析装置5输入配管的壁厚、材质或者音速、以及应该检查的区域R、和基准波形。根据壁厚和材质计算由基准波形产生的导波被检查区域R的中心位置的缺陷DO反射、被导波收发元件1接收时的波形，通过计算的接收波形按照从接收时间晚的依次发送的顺序生成发送波形。通过导波收发装置3向导波收发元件1施加基于发送波形的信号，使导波8发生。通过导波收发装置3接收来自导波收发元件1的导波8的接收波形。通过A/D转换器4把信号转换为数字信号。波形生成及解析装置5以该数字信号作为检查结果在显示装置上显示。
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公开(公告)号：CN104949985A
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201510056790.X
申请日：2015-02-03
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: G01N21/88
CPC classification number: G01M11/081 , G01M5/0033 , G01M5/0058 , G01M5/0091 , G03B37/005
Abstract: 本发明提供一种构造物的表面检查装置以及表面检查方法，能够更高速地进行构造物的表面检查，能够实现检查效率的提高。该构造物的表面检查装置具备：压力变化发生装置(5)，其在沿作为检查对象的构造物(1)的表面的方向移动，使构造物(1)的表面发生压力变化，该作为检查对象的构造物(1)在表面设有根据应力发光的应力发光构造部(2)；拍摄装置(6)，其与压力变化发生装置(5)一体移动，对构造物(1)的表面的产生了压力变化的区域进行拍摄；以及缺陷检测部(7)，其基于通过拍摄装置(6)得到的构造物(1)的图像，检测构造物(1)的表面的缺陷。
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公开(公告)号：CN1573328A
公开(公告)日：2005-02-02
申请号：CN200310123047.9
申请日：2003-12-23
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: G01N29/00
CPC classification number: G01N29/4436 , G01N29/221 , G01N2291/011 , G01N2291/0258 , G01N2291/02827 , G01N2291/02854 , G01N2291/0421 , G01N2291/0422 , G01N2291/044 , G01N2291/102 , G01N2291/2634
Abstract: 本发明的目的是提供一种虽利用导波的群速度变化的频带，但可以总括长距离区间进行高灵敏度检查的非破坏性检查方法及装置。给波形生成及解析装置5输入配管的壁厚、材质或者音速、以及应该检查的区域R、和基准波形。根据壁厚和材质计算由基准波形产生的导波被检查区域R的中心位置的缺陷D0反射、被导波收发元件1接收时的波形，通过计算的接收波形按照从接收时间晚的依次发送的顺序生成发送波形。通过导波收发装置3向导波收发元件1施加基于发送波形的信号，使导波8发生。通过导波收发装置3接收来自导波收发元件1的导波8的接收波形。通过A/D转换器4把信号转换为数字信号。波形生成及解析装置5以该数字信号作为检查结果在显示装置上显示。
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