公开(公告)号：CN112805728B

公开(公告)日：2024-07-26

申请号：CN201880098506.7

申请日：2018-12-25

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 工藤庆子 ,  野口纯司

IPC: G06F18/2415 ,  G06N5/04

Abstract: 学习诊断装置根据故障数据进行学习并制作诊断模型，在作为该机器的故障原因部位不满足固定的件数的情况下，将该机器的机型、故障原因部位、传感器数据储存在稀有案例数据表中。接着，根据由学习部制作出的诊断模型，针对产生了故障的机器的每个部位，计算成为故障原因的推定概率，根据稀有案例数据表，计算产生了故障的机器的传感器数据与该机器的机型过去的传感器数据的传感器数据一致率。并且，显示诊断出的产生了故障的机器的故障原因部位和该故障原因部位的推定概率，显示计算出的产生了故障的机器的每个部位的传感器数据一致率。

公开(公告)号：CN112805728A

公开(公告)日：2021-05-14

申请号：CN201880098506.7

申请日：2018-12-25

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 工藤庆子 ,  野口纯司

IPC: G06Q10/00 ,  G06F30/20

Abstract: 学习诊断装置根据故障数据进行学习并制作诊断模型，在作为该机器的故障原因部位不满足固定的件数的情况下，将该机器的机型、故障原因部位、传感器数据储存在稀有案例数据表中。接着，根据由学习部制作出的诊断模型，针对产生了故障的机器的每个部位，计算成为故障原因的推定概率，根据稀有案例数据表，计算产生了故障的机器的传感器数据与该机器的机型过去的传感器数据的传感器数据一致率。并且，显示诊断出的产生了故障的机器的故障原因部位和该故障原因部位的推定概率，显示计算出的产生了故障的机器的每个部位的传感器数据一致率。