公开(公告)号：CN88100066A

公开(公告)日：1988-11-23

申请号：CN88100066

申请日：1988-01-09

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 远藤正男 ,  朝仓大和 ,  渡边敦志 ,  坂上正治 ,  内田俊介 ,  长濑诚 ,  马场務 ,  大角克己

IPC: G01R27/02

CPC classification number: G01N27/06 ,  G01N33/18 ,  G01N33/182

Abstract: 水质管理方法及其所用电导率测量法以及电导率测量装置，其特征在于：(a)对被测水溶液，分别在Ta至Tn内两点以上不同的温度点测定其电导率，求电导率与温度的关系：(b)把(a)中所得关系应用于预先求得的各种物质的温度与电导率的关系，确定被测水溶液中的溶解物质：(c)确定了溶解物质后，把(a)中的最低测量温度Ta处的电导率代入到预先求得的各种物质，在相同温度Ta处的电导率与浓度的关系中，推算出该物质的浓度。

公开(公告)号：CN85108112B

公开(公告)日：1987-11-04

申请号：CN85108112

申请日：1985-11-05

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 大桥健也 ,  本田卓 ,  古谷保正 ,  村荣二 ,  凑昭 ,  大角克己

IPC: G21F9/00

CPC classification number: G21C17/0225 ,  C23C8/10 ,  C23C8/16 ,  C23C8/18 ,  G21F9/004 ,  Y10S376/90

Abstract: 对与含有放射性物质的高压高温反应堆水相接触的金属结构元件，采用在暴露于反应堆水中之前即预先在其表面上形成氧化膜的方法降低核电站中的放射性，其特征为将所述的结构元件置于高温的环境介质中作第一步加热氧化处理，然后进一步再在比上述更高氧化能力的环境介质中进行第二步处理，由此形成比第一步氧化处理后得到的更为密实的氧化膜，本发明即藉此而实现显著地降低核电站中的放射性。

公开(公告)号：CN85108112A

公开(公告)日：1986-06-10

申请号：CN85108112

申请日：1985-11-05

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 大桥健也 ,  本田卓 ,  古谷保正 ,  村荣二 ,  凑昭 ,  大角克己

IPC: G21C19/30 ,  G21C15/00 ,  G21F9/00

CPC classification number: G21C17/0225 ,  C23C8/10 ,  C23C8/16 ,  C23C8/18 ,  G21F9/004 ,  Y10S376/90

Abstract: 对与含有放射性物质的高压高温反应堆水相接触的金属结构元件，采用在暴露于反应堆水中之前即预先在其表面上形成氧化膜的方法降低核电站中的放射性，其特征为将所述的结构元件置于高温的环境介质中作第一步加热氧化处理，然后进一步再在比上述更高氧化能力的环境介质中进行第二步处理，由此形成比第一步氧化处理后得到的更为密实的氧化膜，本发明即藉此而实现显著地降低核电站中的放射性。