测量装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1117132A

    公开(公告)日:1996-02-21

    申请号:CN95107248.X

    申请日:1995-06-21

    CPC classification number: G01S7/499 G01C15/004 G01S7/006 G01S17/06 G01S17/36

    Abstract: 本发明揭示一种测量装置,该装置包括将照射光束作为具有规定偏振方向光束发射的光源部;将光源部的照射光束向目的反射物照射的照射光学系统;分离目的反射物反射的偏振光的偏振光学构件;接收偏振光学构件所分离偏振反射光束的第1受光部;接收目的反射物反射光束的第2受光部;根据第1受光部的输出信号测出目的反射物的检测部;根据第2受光部的输出信号测定至目的反射物的距离的距离测定部。据此能提高检测目的反射物和测定其距离的可靠性。

    测量装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1092790C

    公开(公告)日:2002-10-16

    申请号:CN95107248.X

    申请日:1995-06-21

    CPC classification number: G01S7/499 G01C15/004 G01S7/006 G01S17/06 G01S17/36

    Abstract: 本发明揭示一种测量装置,该装置包括将照射光束作为具有规定偏振方向光束发射的光源部;将光源部的照射光束向目的反射物照射的照射光学系统;分离目的反射物反射的偏振光的偏振光学构件;接收偏振光学构件所分离偏振反射光束的第1受光部;接收目的反射物反射光束的第2受光部;根据第1受光部的输出信号测出目的反射物的检测部;根据第2受光部的输出信号测定至目的反射物的距离的距离测定部。据此能提高检测目的反射物和测定其距离的可靠性。

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