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公开(公告)号:CN1737545A
公开(公告)日:2006-02-22
申请号:CN200510089921.0
申请日:2005-08-04
Applicant: 株式会社巴川制纸所
Inventor: 作本征则 , 土师圭一朗 , 黑越努
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明提供一种能够精确地判断光学膜优劣的光学膜用检查部件,是在基材上层合粘接部件而制成的检查部件,其特征为,所述基材与所述粘接部件的至少一方为遮光性部件。
公开(公告)号:CN1737545B
公开(公告)日:2011-03-16