公开(公告)号：CN102549454A

公开(公告)日：2012-07-04

申请号：CN200980161770.1

申请日：2009-10-05

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 佐藤贤治 ,  辻久男 ,  佐佐木理 ,  村上大辅 ,  山口庸一 ,  山本武史 ,  岸本荣俊

IPC: G01T1/24 ,  H01L27/14

CPC classification number: G01T1/244 ,  H01L27/14618 ,  H01L27/14658 ,  H01L27/14676 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

Abstract: 本发明提供一种放射线检测器(1)，该放射线检测器(1)沿共用电极(5)的外缘部在高电阻膜(7)的上表面上具有阻挡层(27)，从而能够防止无定形半导体层(9)与固化性合成树脂(29)的化学反应。另外，阻挡层(27)与固化性合成树脂膜(29)间具有粘合性，从而能够防止由温度变化导致在阻挡层(27)与固化性合成树脂膜(29)间的界面处发生剥离等而使强度不充分、从而降低抑制翘曲、龟裂的效果。另外，由于阻挡层(27)的材料是不含有与无定形半导体层(9)发生化学反应的物质的绝缘材料，因此能够防止阻挡层(27)的材料的含有成分与半导体层的化学反应。由此，能够防止电场集中的共用电极(5)外缘部的沿面放电。

公开(公告)号：CN301894656S

公开(公告)日：2012-04-25

申请号：CN201130356928.0

申请日：2011-09-29

Applicant: 株式会社岛津制作所

Designer： 山本武史

Abstract: 本外观设计的产品名称是“粒度分布测量仪”。本外观设计的产品用于测量粒度分布。本外观设计的设计要点在于产品的形状。本外观设计以设计1立体图作为代表图。本外观设计包括两项相似的设计，其中以设计1为基本设计。本外观设计的设计2请求保护色彩。