公开(公告)号：CN105988093B

公开(公告)日：2019-05-03

申请号：CN201610170128.1

申请日：2016-03-23

Applicant: 株式会社大同电子

Inventor： 渡边裕之 ,  小原一浩 ,  佐藤孝典

IPC: G01R33/12

Abstract: 本发明涉及一种磁特性评价方法和磁特性评价设备，该磁特性评价方法包括：评价试样测量过程，其对未磁化的磁体材料形成的评价试样执行电磁感应测量，其中将交变磁场施加到试样上而在试样中产生感应电流并且通过同步检测对感应电流进行检测从而获得同步检测信号；标准样本测量过程，其对多个未磁化的标准试样执行所述电磁感应测量，这些标准试样都以与评价试样大致相同的方式形成；磁特性值测量过程，其对多个标准试样进行磁化并且测量多个标准试样的磁特性；对应过程，其估计关于多个标准试样的同步检测信号与关于多个标准试样的磁特性值之间的关系；以及评价过程，其基于所估计的关系，根据关于评价试样的同步检测信号来估计评价试样的磁特性值。

公开(公告)号：CN105988093A

公开(公告)日：2016-10-05

申请号：CN201610170128.1

申请日：2016-03-23

Applicant: 株式会社大同电子

Inventor： 渡边裕之 ,  小原一浩 ,  佐藤孝典

IPC: G01R33/12

CPC classification number: G01R33/12

Abstract: 本发明涉及一种磁特性评价方法和磁特性评价设备，该磁特性评价方法包括：评价试样测量过程，其对未磁化的磁体材料形成的评价试样执行电磁感应测量，其中将交变磁场施加到试样上而在试样中产生感应电流并且通过同步检测对感应电流进行检测从而获得同步检测信号；标准样本测量过程，其对多个未磁化的标准试样执行所述电磁感应测量，这些标准试样都以与评价试样大致相同的方式形成；磁特性值测量过程，其对多个标准试样进行磁化并且测量多个标准试样的磁特性；对应过程，其估计关于多个标准试样的同步检测信号与关于多个标准试样的磁特性值之间的关系；以及评价过程，其基于所估计的关系，根据关于评价试样的同步检测信号来估计评价试样的磁特性值。