公开(公告)号：CN112992648B

公开(公告)日：2025-04-04

申请号：CN202011344731.X

申请日：2020-11-26

Applicant: 株式会社堀场STEC ,  株式会社堀场制作所

Inventor： 笹井浩平 ,  笹仓一志 ,  池山俊広 ,  井上贵仁 ,  内原博

IPC: H01J49/42 ,  H01J49/00

Abstract: 本发明提供四极杆质量分析装置及方法以及程序记录介质。四极杆质量分析装置具备：离子源(1)，使样品离子化；过滤部(3)，具备四极杆(31)并使在离子源(1)产生的离子质量分离；检测器(5)，检测通过了过滤部(3)的离子；过滤电压控制器(62)，控制施加于四极杆(31)的由高频电压和直流电压构成的过滤电压，在阻断模式与入射模式之间进行切换，阻断模式使入射到过滤部(3)的离子不入射到检测器，入射模式使入射到过滤部(3)的离子入射到检测器；基线计算部(63)，基于阻断模式中的检测器的输出来计算基线；以及分析部(65)，基于入射模式中的检测器的输出和基线计算部(63)计算出的基线来输出样品的分析结果。

公开(公告)号：CN112992648A

公开(公告)日：2021-06-18

申请号：CN202011344731.X

申请日：2020-11-26

Applicant: 株式会社堀场STEC ,  株式会社堀场制作所

Inventor： 笹井浩平 ,  笹仓一志 ,  池山俊広 ,  井上贵仁 ,  内原博

IPC: H01J49/42 ,  H01J49/00

Abstract: 本发明提供四极杆质量分析装置及方法以及程序记录介质。四极杆质量分析装置具备：离子源(1)，使样品离子化；过滤部(3)，具备四极杆(31)并使在离子源(1)产生的离子质量分离；检测器(5)，检测通过了过滤部(3)的离子；过滤电压控制器(62)，控制施加于四极杆(31)的由高频电压和直流电压构成的过滤电压，在阻断模式与入射模式之间进行切换，阻断模式使入射到过滤部(3)的离子不入射到检测器，入射模式使入射到过滤部(3)的离子入射到检测器；基线计算部(63)，基于阻断模式中的检测器的输出来计算基线；以及分析部(65)，基于入射模式中的检测器的输出和基线计算部(63)计算出的基线来输出样品的分析结果。