公开(公告)号：CN111435144B

公开(公告)日：2022-10-04

申请号：CN201910701064.7

申请日：2019-07-31

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝电子元件及存储装置株式会社

Inventor： 间岛秀明

IPC: G01R31/26 ,  G01R19/00

Abstract: 根据一实施方式，电流检测电路具备：常开型的第一开关元件，具有源极、漏极以及栅极；常关型的第二开关元件，具有与上述第一开关元件的源极连接的漏极、与上述第一开关元件的栅极连接的源极、和栅极；以及，输出与上述第二开关元件的漏极和源极间的电压相应的电压的差动放大电路。

公开(公告)号：CN114253328A

公开(公告)日：2022-03-29

申请号：CN202110906195.6

申请日：2021-08-09

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝电子元件及存储装置株式会社

Inventor： 间岛秀明

IPC: G05F1/56

Abstract: 根据一个实施方式，信号处理电路具备：第一电压设定电路，设定隔离器的输入侧的基准电压；可变增益放大电路，将所述隔离器的输出信号放大；DC偏置调整电路，调整所述可变增益放大电路的偏置；第二电压设定电路，设定所述隔离器的输出侧的基准电压；以及控制电路，响应于所述第二电压设定电路的输出电压和所述可变增益放大电路的输出电压的比较结果，控制所述DC偏置调整电路。

公开(公告)号：CN111435144A

公开(公告)日：2020-07-21

申请号：CN201910701064.7

申请日：2019-07-31

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝电子元件及存储装置株式会社

Inventor： 间岛秀明

IPC: G01R31/26 ,  G01R19/00

Abstract: 根据一实施方式，电流检测电路具备：常开型的第一开关元件，具有源极、漏极以及栅极；常关型的第二开关元件，具有与上述第一开关元件的源极连接的漏极、与上述第一开关元件的栅极连接的源极、和栅极；以及，输出与上述第二开关元件的漏极和源极间的电压相应的电压的差动放大电路。

公开(公告)号：CN112448704B

公开(公告)日：2024-10-29

申请号：CN202010021092.7

申请日：2020-01-09

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝电子元件及存储装置株式会社

Inventor： 间岛秀明

IPC: H03K17/082

Abstract: 实施方式的电流检测电路具备主电流通路被串联地连接的常通型和常断型的开关元件；具有与上述常断型的开关元件的源极和栅极连接的源极和栅极及与恒流源连接的漏极的常断型的开关元件，使用上述2个常断型的开关元件的漏极电压，进行除法运算处理。

公开(公告)号：CN115128420A

公开(公告)日：2022-09-30

申请号：CN202210711011.5

申请日：2019-07-31

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝电子元件及存储装置株式会社

Inventor： 间岛秀明

IPC: G01R31/26 ,  G01R19/00

Abstract: 根据一实施方式，电流检测电路具备：常开型的第一开关元件，具有源极、漏极以及栅极；常关型的第二开关元件，具有与上述第一开关元件的源极连接的漏极、与上述第一开关元件的栅极连接的源极、和栅极；以及，输出与上述第二开关元件的漏极和源极间的电压相应的电压的差动放大电路。

公开(公告)号：CN113271088A

公开(公告)日：2021-08-17

申请号：CN202010875170.X

申请日：2020-08-27

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝电子元件及存储装置株式会社

Inventor： 池内克之 ,  间岛秀明

IPC: H03K17/06

Abstract: 实施方式提供一种不会使常通型晶体管的特性恶化、并且能够使常通型晶体管可靠地接通/断开的常通型晶体管的驱动电路以及驱动方法。实施方式的常通型晶体管的驱动电路具备：常断型晶体管，具有漏极和主电流路，该漏极与具有源极、漏极以及栅极的常通型晶体管的所述源极连接，该主电流路与所述常通型晶体管的主电流路串联连接；缓冲电路，被高电位侧的第一电压与低电位侧的第二电压偏置，响应驱动信号而将控制所述常通型晶体管的接通/断开的控制信号供给至所述常通型晶体管的栅极；以及电源部，将所述第一电压与所述第二电压供给至所述缓冲电路。

公开(公告)号：CN114200277B

公开(公告)日：2024-12-17

申请号：CN202110906202.2

申请日：2021-08-09

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝电子元件及存储装置株式会社

Inventor： 间岛秀明

IPC: G01R31/26

Abstract: 实施方式涉及劣化检测装置以及劣化检测方法。根据一个实施方式，劣化检测装置具备：驱动电路，向输出晶体管供给对所述输出晶体管的导通/截止进行控制的驱动信号；以及输出电路，在所述输出晶体管从导通状态成为截止状态时，对在所述输出晶体管截止的状态下输出的输出电流在规定期间中的积分值与规定的阈值进行比较，并根据该比较结果，输出表示所述输出晶体管的劣化状态的信号。

公开(公告)号：CN113271088B

公开(公告)日：2024-10-25

申请号：CN202010875170.X

申请日：2020-08-27

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝电子元件及存储装置株式会社

Inventor： 池内克之 ,  间岛秀明

IPC: H03K17/06

Abstract: 实施方式提供一种不会使常通型晶体管的特性恶化、并且能够使常通型晶体管可靠地接通/断开的常通型晶体管的驱动电路以及驱动方法。实施方式的常通型晶体管的驱动电路具备：常断型晶体管，具有漏极和主电流路，该漏极与具有源极、漏极以及栅极的常通型晶体管的所述源极连接，该主电流路与所述常通型晶体管的主电流路串联连接；缓冲电路，被高电位侧的第一电压与低电位侧的第二电压偏置，响应驱动信号而将控制所述常通型晶体管的接通/断开的控制信号供给至所述常通型晶体管的栅极；以及电源部，将所述第一电压与所述第二电压供给至所述缓冲电路。

公开(公告)号：CN114252675B

公开(公告)日：2024-04-30

申请号：CN202110906187.1

申请日：2021-08-09

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝电子元件及存储装置株式会社

Inventor： 间岛秀明

IPC: G01R19/00

Abstract: 实施方式涉及电流检测电路、电流检测系统以及电源电路。根据实施方式，电流检测电路具备：常断型的第二开关元件，与具有将输出电流输出的漏极的常通型的第一开关元件级联连接；常断型的第三开关元件，与所述第二开关元件并联连接，漏极与可变电流源连接；以及比较电路，根据所述第二开关元件的漏极电压与所述第三开关元件的漏极电压的比较结果而输出检测信号。

公开(公告)号：CN115494363A

公开(公告)日：2022-12-20

申请号：CN202210208122.4

申请日：2022-03-04

Applicant: 株式会社东芝 ,  东芝电子元件及存储装置株式会社

Inventor： 间岛秀明

IPC: G01R31/26

Abstract: 本实施方式涉及劣化检查装置以及劣化检查方法。根据一个实施方式，劣化检查装置具备：电感器，串联连接于作为被检查对象的MOS晶体管的主电流路，在上述MOS晶体管为导通状态时与上述MOS晶体管一起构成闭环；控制电路，对上述MOS晶体管的导通/截止进行控制；电流传感器，检测上述电感器释放的电流；以及计算电路，根据上述MOS晶体管为导通状态时上述电感器释放的电流的衰减特性计算上述MOS晶体管的导通电阻，根据上述MOS晶体管为截止状态时上述电感器释放的电流的衰减特性计算上述MOS晶体管的阈值电压。