湿度调整过滤器以及磁记录再现装置

    公开(公告)号:CN113963727B

    公开(公告)日:2023-05-16

    申请号:CN202110021869.4

    申请日:2021-01-08

    Inventor: 水谷晶代

    Abstract: 实施方式提供抑制磁记录再现装置内的湿度上升的湿度调整过滤器以及具备该湿度调整过滤器的磁记录再现装置。实施方式涉及的湿度调整过滤器用于包括框体的磁记录再现装置,能够配置在将所述框体的内部与外部气体连结的呼吸孔的所述框体的内部侧,所述框体容纳磁记录介质,所述湿度调整过滤器从呼吸孔侧依次包括疏水性覆膜、第1吸附层以及第2吸附层,所述第1吸附层由在通过IUPAC分类而得到的典型的吸附等温线中具有III型的性质的多孔质体形成,所述第2吸附层由具有I型的性质的多孔质体形成。

    湿度调整过滤器以及磁记录再现装置

    公开(公告)号:CN113963727A

    公开(公告)日:2022-01-21

    申请号:CN202110021869.4

    申请日:2021-01-08

    Inventor: 水谷晶代

    Abstract: 实施方式提供抑制磁记录再现装置内的湿度上升的湿度调整过滤器以及具备该湿度调整过滤器的磁记录再现装置。实施方式涉及的湿度调整过滤器用于包括框体的磁记录再现装置,能够配置在将所述框体的内部与外部气体连结的呼吸孔的所述框体的内部侧,所述框体容纳磁记录介质,所述湿度调整过滤器从呼吸孔侧依次包括疏水性覆膜、第1吸附层以及第2吸附层,所述第1吸附层由在通过IUPAC分类而得到的典型的吸附等温线中具有III型的性质的多孔质体形成,所述第2吸附层由具有I型的性质的多孔质体形成。

    盘装置及盘装置的检查方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119673229A

    公开(公告)日:2025-03-21

    申请号:CN202311696827.6

    申请日:2023-12-12

    Inventor: 水谷晶代

    Abstract: 本发明提供能够抑制布线复杂化的盘装置及盘装置的检查方法。本实施方式涉及的盘装置具备壳体、磁盘、电路基板、第1振子以及第1吸附膜。在所述壳体设置有内部空间。所述磁盘配置于所述内部空间。所述电路基板在所述内部空间之外安装于所述壳体。所述第1振子配置于所述内部空间,与电连接于所述电路基板的电路分离。所述第1吸附膜设置于所述第1振子,向所述内部空间露出,构成为吸附第1物质。

    盘装置
    5.
    发明公开
    盘装置 审中-公开

    公开(公告)号:CN119673230A

    公开(公告)日:2025-03-21

    申请号:CN202311670395.1

    申请日:2023-12-07

    Abstract: 本发明提供能够抑制多个吸附剂的性能降低的盘装置。实施方式涉及的盘装置具备磁盘、壳体、第1过滤器单元以及第2过滤器单元。在所述壳体设置有内部空间和第1贯通孔。所述第1过滤器单元具有设置有第1收容空间的第1壳、配置于所述第1收容空间的第1吸附剂、以及第1过滤器,所述第1收容空间与所述第1贯通孔连通且通过所述第1过滤器而与所述内部空间连通。所述第2过滤器单元具有设置有第2收容空间的第2壳、配置于所述第2收容空间的第2吸附剂、以及第2过滤器,所述第2收容空间与所述第1收容空间分离且通过所述第2过滤器而与所述内部空间连通。

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