公开(公告)号：CN115768620A

公开(公告)日：2023-03-07

申请号：CN202180047942.3

申请日：2021-04-19

Applicant: 柯尼卡美能达株式会社

Inventor： 大石清 ,  河邑阳祐

IPC: B29C55/08

Abstract: 本发明提供一种能够抑制卷绕不良的产生的膜、膜卷以及膜的制造方法。本发明涉及一种膜，具备：在长边方向交叉的宽边方向的第一端部和第二端部、上述第一端部和上述第二端部间的中央部、上述第一端部和上述第二端部中的至少上述第一端部的厚度Te1比上述中央部的厚度Tc小的凸状位置、在上述长边方向中配置于与上述凸状位置不同的位置且上述第一端部的厚度Te1比上述中央部的厚度Tc大的凹状位置。

公开(公告)号：CN115684189A

公开(公告)日：2023-02-03

申请号：CN202210870412.5

申请日：2022-07-22

Applicant: 柯尼卡美能达株式会社

Inventor： 畠泽翔太 ,  佐川正悟 ,  河邑阳祐

IPC: G01N21/892 ,  G01N21/88 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明涉及薄膜检查装置、薄膜检查方法以及记录介质。无需基于人工的监视而容易地进行薄膜中产生的缺陷的检测。一种薄膜检查装置，光学性地检查重叠的状态的薄膜中产生的缺陷，在所述薄膜检查装置中，由光源将光照射到薄膜的检查区域(步骤S1)，由相机(光学传感器)拍摄薄膜的检查区域并检测在检查区域中反射的光中的漫射光(步骤S2)，由控制部通过对相机的输出信号进行数据处理来检测缺陷(步骤S5)。