公开(公告)号：CN1173375C

公开(公告)日：2004-10-27

申请号：CN98809757.5

申请日：1998-10-01

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 池本浩一 ,  进藤泰宏 ,  知野见纪光

IPC: H01C1/148 ,  H01C3/00

CPC classification number: H01C3/00 ,  H01C1/14 ,  H01C1/148

Abstract: 本发明涉及以电压值的方式检测电路中的电流值的用于检测电流的电阻器，目的在于提供即使测量位置变动也可保证高精度电阻值的电阻器。该电阻器包括金属制的板状电阻体(11)、和与上述板状电阻体(11)的两端部电气连接的并与其分离的金属制的端子(12)(13)，上述端子(12、13)由其电导率与上述电阻体的电导率相同或比其更大的材料构成。由此可以减小端子的电阻值在整个电阻器中占的比值，从而可以忽略电阻值测量端子的接触位置变动对电阻值波动的影响。

公开(公告)号：CN1272945A

公开(公告)日：2000-11-08

申请号：CN98809757.5

申请日：1998-10-01

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 池本浩一 ,  进藤泰宏 ,  知野见纪光

IPC: H01C1/148 ,  H01C3/00

CPC classification number: H01C3/00 ,  H01C1/14 ,  H01C1/148

Abstract: 本发明涉及以电压值的方式检测电路中的电流值的用于检测电流的电阻器,目的在于提供即使测量位置变动也可保证高精度电阻值的电阻器。该电阻器包括金属制的板状电阻体(11)、和与上述板状电阻体(11)的两端部电气连接的并与其分离的金属制的端子(12)(13),上述端子(12、13)由其电导率与上述电阻体的电导率相同或比其更大的材料构成。由此可以减小端子的电阻值在整个电阻器中占的比值,从而可以忽略电阻值测量端子的接触位置变动对电阻值波动的影响。

公开(公告)号：CN1056459C

公开(公告)日：2000-09-13

申请号：CN96190234.5

申请日：1996-03-28

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 服部章良 ,  堀喜博 ,  池田正树 ,  吉田昭彦 ,  进藤泰宏 ,  五十岚幸造

IPC: H01C7/00

CPC classification number: H01C7/06 ,  H01C17/06533

Abstract: 本发明的金属氧化物薄膜电阻器，具备：有绝缘性的基体材料、至少由电阻温度系数显示正值的金属氧化物薄膜和/或其电阻温度系数显示负值的金属氧化物薄膜构成的金属氧化物电阻薄膜及/或金属氧化物绝缘薄膜；是一种不受水分的影响，也不受绝缘基体材料中的碱离子的影响，膜本身的电阻值不变，可靠性高的电阻器。

公开(公告)号：CN1148902A

公开(公告)日：1997-04-30

申请号：CN96190234.5

申请日：1996-03-28

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 服部章良 ,  堀喜博 ,  池田正树 ,  吉田昭彦 ,  进藤泰宏 ,  五十岚幸造

IPC: H01C7/00

CPC classification number: H01C7/06 ,  H01C17/06533

Abstract: 本发明的金属氧化物薄膜电阻器，具备：有绝缘性的基体材料、至少由电阻温度系数显示正值的金属氧化物薄膜和/或其电阻温度系数显示负值的金属氧化物薄膜构成的金属氧化物电阻薄膜及/或金属氧化物绝缘薄膜；是一种不受水分的影响，也不受绝缘基体材料中的碱离子的影响，膜本身的电阻值不变，可靠性高的电阻器。