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发明公开
检测方法以及检测装置审中-实审

公开(公告)号：CN113396330A

公开(公告)日：2021-09-14

申请号：CN202080012592.2

申请日：2020-04-27

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 河村达朗 , 柳川博人 , 安浦雅人 , 藤卷真

IPC: G01N33/543 , G01N33/553 , G01N21/64

Abstract: 通过使固定于具有磁性的金属颗粒(2)的第1物质(3)和由荧光体(4)标记的第2物质(5)与标靶物质(1)结合来形成复合体(6)(S101)，通过施加磁场来使复合体(6)进行移动(S102、S104)，对移动中的复合体(6)照射具有预定波长的激励光(21)，激励光使荧光体(4)放射荧光，荧光通过在金属颗粒(2)产生的局域表面等离激元共振被增强(S103)，历时地拍摄被增强了的荧光，取得多个二维图像(S105)，基于多个二维图像各自包含的光点来检测标靶物质(1)(S106)，金属颗粒(2)具有内核部(2a)和外壳部(2b)，该内核部(2a)由磁性材料形成，该外壳部(2b)覆盖内核部(2a)，由产生局域等离激元表面共振的非磁性的金属材料形成。

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