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发明公开
强电介质存储器的加速试验方法无效

公开(公告)号：CN1488937A

公开(公告)日：2004-04-14

申请号：CN03155041.X

申请日：2003-08-26

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 永桥克己 , 野间淳史

IPC: G01N27/60 , G01N27/00 , G01R27/26 , G01R31/00

CPC classification number: G11C29/50016 , G11C11/22 , G11C29/50 , G11C2029/5004

Abstract: 本发明公开了一种强电介质存储器的加速方法，为进一步提高具备有强电介质膜的电容元件的强电介质存储器的耐久特性的拟合特性的强电介质存储器的加速方法，是以具备有强电介质膜的电容元件的强电介质存储器的实际使用条件(温度T1、电压V1)下在加速条件(温度T2、电压V2)下评价耐久特性的加速试验方法为对象，通过使用上述数学式导出评价耐久特性必须的加速系数(K)的工序。

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