公开(公告)号：CN111337368B

公开(公告)日：2023-02-28

申请号：CN202010086249.4

申请日：2020-02-11

Applicant: 杭州电子科技大学

Inventor： 倪敬 ,  任旭 ,  王悦瑾 ,  蒙臻

IPC: G01N3/56 ,  G06F30/20 ,  G06F30/17 ,  G06F111/10 ,  G06F119/04

Abstract: 本发明公开了一种机器人电连接器单插针磨损衍化情况测试方法与装置。现有的接插件可靠性测试并不能深入的理解具体的接插件失效原因，获取插接件的磨损衍化曲线。本发明如下：一、建立试验横向、角度偏移量参数集。二、进行模型确立试验。三、建立磨痕平均体积的衍化模型。四、分别建立被测接插件在两种加速条件下的磨痕衍化函数。五、通过模糊决策选定最终使用的加速条件和衍化函数。发明通过角度偏移和横向偏移作为加速条件建立衍化模型，并通过模糊决策的方式选取最优的衍化模型，衍化模型充分考虑了接插件在安装插针时插针的安装精度对接插件耐磨性能的影响，弥补了现有机器人接插件可靠性测试方法的不足。

公开(公告)号：CN111337368A

公开(公告)日：2020-06-26

申请号：CN202010086249.4

申请日：2020-02-11

Applicant: 杭州电子科技大学

Inventor： 倪敬 ,  任旭 ,  王悦瑾 ,  蒙臻

IPC: G01N3/56 ,  G06F30/20 ,  G06F30/17 ,  G06F111/10 ,  G06F119/04

Abstract: 本发明公开了一种机器人电连接器单插针磨损衍化情况测试方法与装置。现有的接插件可靠性测试并不能深入的理解具体的接插件失效原因，获取插接件的磨损衍化曲线。本发明如下：一、建立试验横向、角度偏移量参数集。二、进行模型确立试验。三、建立磨痕平均体积的衍化模型。四、分别建立被测接插件在两种加速条件下的磨痕衍化函数。五、通过模糊决策选定最终使用的加速条件和衍化函数。发明通过角度偏移和横向偏移作为加速条件建立衍化模型，并通过模糊决策的方式选取最优的衍化模型，衍化模型充分考虑了接插件在安装插针时插针的安装精度对接插件耐磨性能的影响，弥补了现有机器人接插件可靠性测试方法的不足。