公开(公告)号：CN113628674A

公开(公告)日：2021-11-09

申请号：CN202110779132.9

申请日：2021-07-09

Applicant: 杭州电子科技大学

Inventor： 樊凌雁 ,  李俊凡

IPC: G11C29/56 ,  G06T7/00 ,  G06T7/90

Abstract: 本发明公开了一种RAIM构架SSD中故障eMMC定位方法，包括S1，测试若干个SSD盘，选出故障盘，并记录故障RCA；S2，对故障盘中每一个eMMC进行编号，并格式化故障盘；S3，测试正常盘不同工作状态下的色温，作为故障检测对比标准；S4，选中S1中非故障的RCA，写入数据，获取红外成像图；S5，观测红外成像图，得到正常工作的eMMC对应的S4中RCA；S6，重复S4和S5，测试正常SSD盘上所有非故障的RCA对应的eMMC是否是正常颗粒。本发明利用红外技术定位故障颗粒，通过对比正常工作的eMMC和故障eMMC对外部温度环境的影响，利用红外成像图直接判断。

公开(公告)号：CN113628674B

公开(公告)日：2023-08-18

申请号：CN202110779132.9

申请日：2021-07-09

Applicant: 杭州电子科技大学

Inventor： 樊凌雁 ,  李俊凡

IPC: G11C29/56 ,  G06T7/00 ,  G06T7/90

Abstract: 本发明公开了一种RAIM构架SSD中故障eMMC定位方法，包括S1，测试若干个SSD盘，选出故障盘，并记录故障RCA；S2，对故障盘中每一个eMMC进行编号，并格式化故障盘；S3，测试正常盘不同工作状态下的色温，作为故障检测对比标准；S4，选中S1中非故障的RCA，写入数据，获取红外成像图；S5，观测红外成像图，得到正常工作的eMMC对应的S4中RCA；S6，重复S4和S5，测试正常SSD盘上所有非故障的RCA对应的eMMC是否是正常颗粒。本发明利用红外技术定位故障颗粒，通过对比正常工作的eMMC和故障eMMC对外部温度环境的影响，利用红外成像图直接判断。