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公开(公告)号:CN103256907A
公开(公告)日:2013-08-21
申请号:CN201310202690.4
申请日:2013-05-27
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G01B21/02
Abstract: 本发明公开了一种摆片下垂量精密测量装置及方法。本发明主要包括微型步进电机、恒测力钮、表头、基座、摆片、目镜、支柱、控制系统、底座、千分尺、套筒、激光发射器,装置主体设有基体,底座,千分尺,摆片放在基体的环形槽中,基体的下部与千分尺相连,千分尺与微型步进电机相连,微型步进电机的另一端与控制系统相连,底座与基体通过螺母相连,以支撑基体,装置的右侧设有激光发射器,激光发射器通过千分尺来调节位置,千分尺发在套筒中,套筒通过螺母与基座相连,装置左侧设有目镜,目镜与支柱相连。本发明使用一种较为简单的测量装置,操作方便,可以提高测量的精度,适用于任何材料摆片下垂量的测量,适用范围广。
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公开(公告)号:CN103256907B
公开(公告)日:2016-04-27
申请号:CN201310202690.4
申请日:2013-05-27
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G01B21/02
Abstract: 本发明公开了一种摆片下垂量精密测量装置及方法。本发明主要包括微型步进电机、恒测力钮、表头、基座、摆片、目镜、支柱、控制系统、底座、千分尺、套筒、激光发射器,装置主体设有基体,底座,千分尺,摆片放在基体的环形槽中,基体的下部与千分尺相连,千分尺与微型步进电机相连,微型步进电机的另一端与控制系统相连,底座与基体通过螺母相连,以支撑基体,装置的右侧设有激光发射器,激光发射器通过千分尺来调节位置,千分尺发在套筒中,套筒通过螺母与基座相连,装置左侧设有目镜,目镜与支柱相连。本发明使用一种较为简单的测量装置,操作方便,可以提高测量的精度,适用于任何材料摆片下垂量的测量,适用范围广。
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