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公开(公告)号：CN115880253A
公开(公告)日：2023-03-31
申请号：CN202211603785.2
申请日：2022-12-13
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G06T7/00 , G06T5/00 , G06N3/0464 , G06N3/084
Abstract: 本发明公开了一种光场图像的质量检测方法；该方法如下：1、对被测光场图像进行分解，得到子孔径图像序列。2、将子孔径图像序列进行两两配对，得到多个左右视图对；每个左右视图对均生成一个光场三维视图。3、构建用于质量评估的神经网络；并使用神经网络生成被测光场图像的质量分数S。本发明综合了光场图像的图像观感体验与图像可识别度这两项指标，能够准确分析光场图像的质量。
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