样品检测设备
    1.
    发明公开
    样品检测设备 审中-实审

    公开(公告)号:CN116593258A

    公开(公告)日:2023-08-15

    申请号:CN202310774681.6

    申请日:2023-06-28

    Inventor: 王海金 葛海军

    Abstract: 本发明公开一种样品检测设备,包括基座、样品压制机构、传输机构和样品检测主体,基座设有第一避让结构,样品压制机构包括样品盒、压块和压紧机构,压紧机构包括与第一避让结构相对分布、且可相对于基座移动的顶头,顶头可穿过第一避让结构而在第一位置与第二位置之间升降,第一位置高于第二位置;在顶头升至第一位置的情况下,顶头将样品盒和压块压紧,在顶头降至第二位置的情况下,样品盒跟随顶头下降而与压块分离,样品盒被支撑于传输机构上,且可被传输机构输送至检测位置。上述方案可以解决相关技术中的样品检测设备在对样品进行检测时需要配置独立的传输设备和压样设备,而使得用户需要操作多个独立的设备而存在操作繁琐的问题。

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