物镜检测装置及其检测方法、显微镜

    公开(公告)号:CN117969045B

    公开(公告)日:2024-10-25

    申请号:CN202410373298.4

    申请日:2024-03-29

    Inventor: 何苗忠 姜俊峰

    Abstract: 本发明公开一种物镜检测装置及其检测方法、显微镜,物镜检测装置包括固定座、物镜转盘、驱动件、第一检测装置以及控制组件,物镜转盘可转动连接于固定座,物镜转盘的一表面设有N个安装位,N个所述安装位周向间隔位于所述物镜转盘的一表面;每一安装位用于安装物镜,其中,N为正整数,且大于等于2;驱动件驱动连接于物镜转盘;第一检测装置设于固定座的侧面对应一安装位,且检测方向朝向一所述安装位,用来检测所述安装位有无物镜和/或物镜属性信息;控制组件与驱动件、第一检测装置均电连接,以控制驱动件和第一检测装置运行。本发明的物镜检测装置可节约成本。

    物镜检测装置及其检测方法、显微镜

    公开(公告)号:CN117969045A

    公开(公告)日:2024-05-03

    申请号:CN202410373298.4

    申请日:2024-03-29

    Inventor: 何苗忠 姜俊峰

    Abstract: 本发明公开一种物镜检测装置及其检测方法、显微镜,物镜检测装置包括固定座、物镜转盘、驱动件、第一检测装置以及控制组件,物镜转盘可转动连接于固定座,物镜转盘的一表面设有N个安装位,N个所述安装位周向间隔位于所述物镜转盘的一表面;每一安装位用于安装物镜,其中,N为正整数,且大于等于2;驱动件驱动连接于物镜转盘;第一检测装置设于固定座的侧面对应一安装位,且检测方向朝向一所述安装位,用来检测所述安装位有无物镜和/或物镜属性信息;控制组件与驱动件、第一检测装置均电连接,以控制驱动件和第一检测装置运行。本发明的物镜检测装置可节约成本。

    材料缺陷的无损检测方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN118937476A

    公开(公告)日:2024-11-12

    申请号:CN202310538526.4

    申请日:2023-05-11

    Inventor: 何苗忠

    Abstract: 本申请公开了一种材料缺陷的无损检测方法、装置、设备及存储介质,所述材料缺陷的无损检测方法包括:基于待检测材料块的表面图像,确定待检测材料块的表面缺陷信息;根据预设的扫查步进大小,对待检测材料块进行超声扫查,确定表面缺陷信息所在的缺陷步进位置;确定包围缺陷步进位置的范围最小的标记步进位置;将标记步进位置与缺陷步进位置进行加权叠加处理,得到缺陷步进位置对应截面成像的强度加权值;基于标记步进位置的强度加权值,确定待检测材料块的目标缺陷信息。本申请通过将缺陷位置以及缺陷边沿成像的效果加权叠加,增强缺陷成像效果,无需增加扫查的次数,实现对内部缺陷进行检出,提高了自动化缺陷检测的效率。

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