专利检索 ap:("本田技研工业株式会社" OR "加拿大不列颠哥伦比亚大学") AND inv:"D·W·约翰·马登" 第 1 页

1.

发明授权
静电电容型检知传感器、静电电容型检知传感器模块以及使用静电电容型检知传感器的状态判定方法有权

公开(公告)号：CN114450560B

公开(公告)日：2024-04-30

申请号：CN202080068170.7

申请日：2020-07-28

申请人： 本田技研工业株式会社 , 加拿大不列颠哥伦比亚大学

发明人： 石崎隆介 , D·W·约翰·马登 , S·米尔扎·萨瓦尔 , 土桥裕太

IPC分类号： G01D5/241 , G01V3/00

摘要： 提供能够实现人体等物体的接近的有无以及从该物体承受的压力的检知精度的提高的静电电容型检知传感器。一对第一电极(111、112)在相对于由电介体构成的基材(10)的接触表面(102)平行的方向上分离、并且与基材(10)至少局部地相接的状态下配置。在相对于基材(10)的接触表面(102)垂直的方向上，一对第二电极(121、122)在比一对第一电极(111、112)远离基材(10)的接触表面(102)的位置在与至少一方的第一电极重叠、并且夹着基材(10)的状态下配置。根据一对第一电极(111、112)之间的静电电容(C1)的测定结果，来检知物体(Q)相对于基材(10)的接触表面(102)的接近状态。根据一对第二电极(121、122)之间的静电电容(C2)的测定结果，来检知从接触于基材(10)的接触表面(102)的物体(Q)作用于基材(10)的压力。

2.

发明公开
静电电容型检知传感器、静电电容型检知传感器模块以及使用静电电容型检知传感器的状态判定方法有权

公开(公告)号：CN114450560A

公开(公告)日：2022-05-06

申请号：CN202080068170.7

申请日：2020-07-28

申请人： 本田技研工业株式会社 , 加拿大不列颠哥伦比亚大学

发明人： 石崎隆介 , D·W·约翰·马登 , S·米尔扎·萨瓦尔 , 土桥裕太

IPC分类号： G01D5/241 , G01V3/00

摘要： 提供能够实现人体等物体的接近的有无以及从该物体承受的压力的检知精度的提高的静电电容型检知传感器。一对第一电极(111、112)在相对于由电介体构成的基材(10)的接触表面(102)平行的方向上分离、并且与基材(10)至少局部地相接的状态下配置。在相对于基材(10)的接触表面(102)垂直的方向上，一对第二电极(121、122)在比一对第一电极(111、112)远离基材(10)的接触表面(102)的位置在与至少一方的第一电极重叠、并且夹着基材(10)的状态下配置。根据一对第一电极(111、112)之间的静电电容(C1)的测定结果，来检知物体(Q)相对于基材(10)的接触表面(102)的接近状态。根据一对第二电极(121、122)之间的静电电容(C2)的测定结果，来检知从接触于基材(10)的接触表面(102)的物体(Q)作用于基材(10)的压力。