公开(公告)号：CN102770775B

公开(公告)日：2015-05-27

申请号：CN201180010504.6

申请日：2011-02-22

Applicant: 本田技研工业株式会社

Inventor： 丸山进 ,  土切英之 ,  福田浩治 ,  出町敦

IPC: G01R31/04 ,  B60R16/02 ,  G01M17/007 ,  G01R33/02

CPC classification number: G01R33/02 ,  G01R31/006 ,  G01R31/04 ,  G01R33/0385

Abstract: 在所公开的测量接触故障的方法和接触故障测量装置(14)中，由磁传感器(70)检测外力施加于待测量线束(80)的端子接头部(50)时的线束(80)周围的感应磁场的过度响应波动的大小，并且结果被显示为端子接头部(50)的接触状态的质量的指标。

公开(公告)号：CN102770775A

公开(公告)日：2012-11-07

申请号：CN201180010504.6

申请日：2011-02-22

Applicant: 本田技研工业株式会社

Inventor： 丸山进 ,  土切英之 ,  福田浩治 ,  出町敦

IPC: G01R31/04 ,  B60R16/02 ,  G01M17/007 ,  G01R33/02

CPC classification number: G01R33/02 ,  G01R31/006 ,  G01R31/04 ,  G01R33/0385

Abstract: 在所公开的测量接触故障的方法和接触故障测量装置(14)中，由磁传感器(70)检测外力施加于待测量线束(80)的端子接头部(50)时的线束(80)周围的感应磁场的过度响应波动的大小，并且结果被显示为端子接头部(50)的接触状态的质量的指标。