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公开(公告)号：CN111209146A
公开(公告)日：2020-05-29
申请号：CN201911338161.0
申请日：2019-12-23
Applicant: 曙光信息产业(北京)有限公司
Abstract: 本发明公开了一种RAID卡老化测试方法和RAID卡老化测试方法系统，该方法包括加载测试环境，接入待测试RAID卡，并在测试环境下，进行RAID卡状态信息检查；和/或PCIe链路检测；和/或SAS链路检测；和/或RAID卡IO性能测试；和/或RAID卡日志检查；以在出厂前完成这些RAID卡检查，有效拦截硬件损伤、信号差的RAID卡，减少终端用户RAID掉盘事件的发生；在一定程度上提高产品质量，本发明还提供了用于实施上述本发明方法的系统，以完成对RAID卡出厂前的自动化检测，以确保出厂的RAID卡处于健康状态，能稳定工作；实现测试的自动化，减轻产线员工的压力；并在检测过程中对RAID卡问题原因快速诊断，有效提高Raid卡老化测试效率，提高测试结果准确性。
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公开(公告)号：CN111223516A
公开(公告)日：2020-06-02
申请号：CN201911371088.7
申请日：2019-12-26
Applicant: 曙光信息产业(北京)有限公司
Abstract: 本发明公开了一种RAID卡检测方法以及装置，该方法包括：S1，使用storcli工具第一次获取RAID卡与SAS链路之间产生的phy error的第一项计数、第二项计数和第三项计数；S2，判断第一项计数、第二项计数和第三项计数中的每一个是否都小于基准值，S3，如果判断的结果为是，则执行带宽压力测试并返回至步骤S1再次获取第一项计数、第二项计数和第三项计数；S4，根据再次获取的第一项计数、第二项计数和第三项计数判断第一次获取的第一项计数、第二项计数和第三项计数中的每一个是否都无增长，如果判断结果为都无增长，则RAID卡SAS链路的测试结果为通过。通过上述技术方案，至少能够检测RAID卡SAS链路信号质量，确保出厂的RAID卡处于健康状态。
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公开(公告)号：CN111209146B
公开(公告)日：2023-08-22
申请号：CN201911338161.0
申请日：2019-12-23
Applicant: 曙光信息产业(北京)有限公司
Abstract: 本发明公开了一种RAID卡老化测试方法和RAID卡老化测试系统，该方法包括加载测试环境，接入待测试RAID卡，并在测试环境下，进行RAID卡状态信息检查；和/或PCIe链路检测；和/或SAS链路检测；和/或RAID卡IO性能测试；和/或RAID卡日志检查；以在出厂前完成这些RAID卡检查，有效拦截硬件损伤、信号差的RAID卡，减少终端用户RAID掉盘事件的发生；在一定程度上提高产品质量，本发明还提供了用于实施上述本发明方法的系统，以完成对RAID卡出厂前的自动化检测，以确保出厂的RAID卡处于健康状态，能稳定工作；实现测试的自动化，减轻产线员工的压力；并在检测过程中对RAID卡问题原因快速诊断，有效提高Raid卡老化测试效率，提高测试结果准确性。
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公开(公告)号：CN111223516B
公开(公告)日：2021-09-07
申请号：CN201911371088.7
申请日：2019-12-26
Applicant: 曙光信息产业(北京)有限公司
Abstract: 本发明公开了一种RAID卡检测方法以及装置，该方法包括：S1，使用storcli工具第一次获取RAID卡与SAS链路之间产生的phy error的第一项计数、第二项计数和第三项计数；S2，判断第一项计数、第二项计数和第三项计数中的每一个是否都小于基准值，S3，如果判断的结果为是，则执行带宽压力测试并返回至步骤S1再次获取第一项计数、第二项计数和第三项计数；S4，根据再次获取的第一项计数、第二项计数和第三项计数判断第一次获取的第一项计数、第二项计数和第三项计数中的每一个是否都无增长，如果判断结果为都无增长，则RAID卡SAS链路的测试结果为通过。通过上述技术方案，至少能够检测RAID卡SAS链路信号质量，确保出厂的RAID卡处于健康状态。
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