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公开(公告)号：CN1681852A
公开(公告)日：2005-10-12
申请号：CN03821586.1
申请日：2003-09-11
Applicant: 昭和电工株式会社
Inventor： 小塚隆司 , 新保邦明
IPC: C08F8/32
CPC classification number: C08F8/32 , C08F20/00
Abstract: 本发明的目的是抑制由酯键的水解所产生的羧基的分离，从而改善聚合物颗粒的耐酸碱性，所述酯键的水解在强酸性或强碱性溶液的存在下使用含有酯键的聚合物颗粒时发生。当采用酸性或碱性水溶液处理含有酯键的聚合物颗粒时，从而预先使位于和暴露在颗粒表面上且易于水解的酯键水解，分离羧基，然后通过酰胺化将自由的羧基封闭，从而解决上述问题。
