高离子引出效率的离子阱飞行时间质谱仪及其实现方法

    公开(公告)号:CN106711009A

    公开(公告)日:2017-05-24

    申请号:CN201710098583.X

    申请日:2017-02-23

    CPC classification number: H01J49/02 H01J49/40 H01J49/401

    Abstract: 本发明提供一种高离子引出效率的离子阱飞行时间质谱仪及其实现方法,其中,所述质谱仪包括:离子阱以及飞行时间分析器;所述离子阱包括:第一离子门、中间电极以及第二离子门,所述中间电极位于所述第一离子门和第二离子门之间,所述第一离子门形成离子入口,其上施加有直流偏置电压,所述第二离子门形成离子出口,其上施加有引出脉冲电压,所述飞行时间分析器设置于所述离子阱的下游,并接收自所述第二离子门中先后引出的离子段。本发明通过设置不同的推斥脉冲延时时间,可以扩大检测离子的质量范围。此外,由于不需要将离子重新填充离子阱及重复所有操作,可以有效的提高离子阱与飞行时间质量分析器耦合后的占空比。

    高离子引出效率的离子阱飞行时间质谱仪

    公开(公告)号:CN206516608U

    公开(公告)日:2017-09-22

    申请号:CN201720163908.3

    申请日:2017-02-23

    Abstract: 本实用新型提供一种高离子引出效率的离子阱飞行时间质谱仪,其中,所述质谱仪包括:离子阱以及飞行时间分析器;所述离子阱包括:第一离子门、中间电极以及第二离子门,所述中间电极位于所述第一离子门和第二离子门之间,所述第一离子门形成离子入口,其上施加有直流偏置电压,所述第二离子门形成离子出口,其上施加有引出脉冲电压,所述飞行时间分析器设置于所述离子阱的下游,并接收自所述第二离子门中先后引出的离子段。本实用新型通过设置不同的推斥脉冲延时时间,可以扩大检测离子的质量范围。此外,由于不需要将离子重新填充离子阱及重复所有操作,可以有效的提高离子阱与飞行时间质量分析器耦合后的占空比。

Patent Agency Ranking